针对容性负载的线性功率放大电路的稳定性设计
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第二步：如图8所示，在低频部分，由于阻性反馈Rf和Ri决定的小信号交流增益1／βlow是一个25．1 dB的水平线，其与含有容性压电负载的开环增益Ao1w／CL曲线的闭合率为40 dB／dec，因此，必须提高电路的稳定性。本文引用地址：https://www.eepw.com.cn/article/179842.htm
第三步：如图9所示，噪声增益相位补偿法是以维持闭环增益不变的基础上，在高频部分增加了放大电路的整体噪声增益，其缺点是减小了闭环带宽，反馈零点相位补偿法是以单位增益稳定性为代价，其优点是提高了闭环带宽。因此，可以根据性能折中的原则，将上述两种相位补偿法相融合。
由Rn和Cn组成的噪声增益相位补偿网络，提高了在高频部分的小信号交流增益1／βhi：
如图8所示，噪声增益的零点频率fzl可以按照20 dB／dec的闭合率，由噪声增益的极点频率fp5，向小信号交流增益1／βlow变化。然而，仅靠噪声增益相位补偿法，闭合率仍旧为40 dB／dec。
第四步：如图8所示，反馈零点相位补偿法是在小信号交流增益1／βhi上增加一个极点，极点频率设置在闭合频率fcl十分频处，目的是防止Ao1曲线随时间和温度发生向左漂移，这就可能会导致出现40 dB／dec的闭合率。Cf和Rf的极点频率fp6为：
如图8所示，由于小信号增益不能小于0 dB，因此，1／β曲线与O dB相交形成了零点频率fz2。
第五步：由于在闭合频率fcl处的闭合率为20 dB／dec，因此，初步完成了该电路的稳定性设计。
2．2．2 相频曲线的稳定性分析
如图10所示，从直流到fcl处，相位裕度φ≥45°，因此该电路应具有较好的稳定性。
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