基于MCU的测试系统

(2) 从机MCU1～MCU4的功能

通过RxD端口，以串行通信方式接收来自主MCU的与自己相关的命令和数据。

每个从机的24路IO端口P0.0～P0.7、P1.0～P1.7和P2.0～P2.7共计96路分别与测试通道Port1～Port96相连接。根据IO端口的设置情况，向定义的输出通道输出测试激励信号，从相应的输入通道读入测试结果并存入相应的RAM单元。

在被测试电路板的一个输出通道测试完毕后，将测试的结果发送到主MCU的RAM存储区，并由主MCU发往计算机。

负责自身数据存储区RAM的自检工作。当接收到主MCU的自检命令时，对自身的RAM进行自检，并将自检结果发送到主MCU。

2.4 测试通道适配接口卡

普通的被测数字电路板是不能直接插到测试平台的测试接口上的，需要有特制的测试通道适配接口卡才能进行连接。本系统提供的接口卡是96路通道的总线结构的接口卡，可与适用于本设计的数字电路板进行连接。如果要测试其它类型的数字电路板，则需要专门定做与其配套的测试通道适配接口卡。

3 软件设计

3.1 测试平台程序设计

本系统测试平台程序采用模块化设计，是基于Keil系统开发软件和TKS-668开发硬件，采用C语言与汇编语言编写的。模块化程序设计的思想就是要把一个复杂的程序按整体功能划分成若干相对独立的程序模块，各模块可以单独设计、编程、调试和查错，然后装配起来进行联调，最终成为一个有实用价值的程序。本系统的测试平台软件主要由系统的主程序、通信程序、测试程序和自检程序等模块组成。

3.1.1 主程序设计

主、从MCU的主程序设计流程图分别如图2、图3所示。本系统中的四个从MCU具有相同的功能，因此其主程序设计是一样的。主、从MCU在初始化中要设置的相关参数包括：串行口的方式、波特率、定时器的方式、中断等。

3.1.2 自检程序设计

主从MCU的自检是为了保证每个单片机都能正常工作，即USB和主MCU、主MCU和从MCU之间的通讯正常，并且保证每个单片机的RAM没有损坏。

主MCU和从MCU之间的通讯是否正常的自检是：先由主单片机向从单片机发一串数据，然后再由从单片机把接收到的数据发回主单片机，判断两串数据的个数和内容是否一致，一致的话则说明通讯正常。同理，USB和主MCU之间通讯自检的原理也是如此。

MCU的RAM自检的原理是：对于每一个RAM的存储单元，先把一个数据写入该RAM的单元，然后再从该单元里读出一个数据，判断两者是否一致，如果一致则说明该RAM单元没有损坏。