科利登安装完备失效分析实验室
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科利登可用于65nm技术的完备实验室解决方案包括了电子发射显微系统,具有时间精度的发射技术,激光扫描显微系统以及电路编辑。它还拥有方便高效的软件工具,能把所有的失效分析和设计调试的硬件单元集成起来。该解决方案通过提高整体的产品质量,能为半导体产品的良率提升和可靠性分析提供很高的投资回报率。它能增加首次流片的成功概率,加速产品上市时间,加快关键缺陷的失效分析,从而减少产品开发及掩模板时故障隔离的成本。同时,它也能在芯片设计和生产之间的灰色区域进行有效的特征分析。
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