首页  资讯  商机   下载  拆解   高校  招聘   杂志  会展  EETV  百科   问答  电路图  工程师手册   Datasheet  100例   活动中心  E周刊阅读   样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> d-6432dft

d-6432dft 文章 进入d-6432dft技术社区

科利登发布D-6432DFT测试解决方案

  •   科利登系统有限公司推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT,用于测试新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。   Sapphire D-6432DFT设备是首款用于高速串行总线的集成测试解决方案,在一次插入中结合了高速环路测试、抖动测量和注入信号,以及扫描/功能性测试和DC参数测量。D-6432DFT的密度比同类产品高出4倍,可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法,助其显
  • 关键字: 测试  测量  科利登  D-6432DFT  测试测量  
共1条 1/1 1

d-6432dft介绍

您好,目前还没有人创建词条d-6432dft!
欢迎您创建该词条,阐述对d-6432dft的理解,并与今后在此搜索d-6432dft的朋友们分享。    创建词条

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052    京公网安备11010802012473