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传感器/ASIC集成缩小电流变送器体积

作者:Stephane Rollier时间:2008-06-04来源:瑞士莱姆子公司收藏

  的发展趋势与其他电子领域的发展趋势没有什么不同——更大规模集成加降低元件数量。但是,由于系统中存在散热器、磁性元件与线圈等元件,使高水平集成更加困难。微机电系统()已在检测系统得到应用,并可能应用于系统的其他部分。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/83627.htm

  传统的电流变送器不适合于家电产品和空调系统市场,因为它们体积太大、价格高昂。而一种成本较低、体积较小的变送器则使得测量这些系统的电流成为可能,唯一受到的限制是漏电、间隙和绝缘等级等外界因素。

  用于自己的LTS电流变送器的应用定制集成电路()采用一个尺寸仅有22.2mm(长)×10mm(宽)×24mm(高)的 PCB安装封装,实现了这种霍尔效应闭环变送器。然后,又开发了使用霍尔效应开环技术的,诞生了一系列范围广泛的变送器产品,最小型号的尺寸只有18.7mm(长)× 16.7mm(宽)×10.7mm(高)。

  这些集成了电流变送器所需要的电路(场检测元件,全部有源电子元件,如放大器、晶体管、二极管、齐纳管、电压基准等)。某些部分采用了专门的硅技术以改进性能,如偏置漂移和增益漂移。磁性电路元件与外壳仍与ASIC分开。

  微型化接下来的步骤是将这些余下的磁芯元件集成到ASIC封装中。

  Minisens/FHS可将一个待测电流的磁场转换为一个电压输出。这个“初级”电流流经一根电缆或PCB走线(此电缆或PCB走线位于IC旁但与IC电气隔离)。IC中的霍尔效应器件测量磁场,这个磁场通过一个放置在IC顶部的磁通会聚器,聚焦在霍尔元件部位。

  会聚器的形状对某些方面作了优化,包括测量普通PCB电流水平时会遇到的磁场灵敏度(增益)以及线性度。

  会聚器提供系数约为8的无噪声增益。霍尔元件的输出通过自旋技术作上变频,这样既可以探测到小磁场,又不会有偏移或1/f噪声问题。IC对初级电流磁场的灵敏度最高为600mV/mT。

  这就是霍尔效应开环技术的基本工作原理,而所有这些均集成在一只小型IC封装中。

  探测的电流可以为正,也可以为负。通过检测磁场的极性,产生一个正电压输出或负电压输出,该输出相当于由无磁场时初始偏移所确定的基准电压。标准的初始偏移为2.5V(内部基准)。用户可以指定一个2~2.8V之间的外部基准。

  Minisens最普通的用法是将其放在一个PCB走线上方,该走线承载着需要测量的电流。为优化变送器的功能,需要在走线的尺寸上应用一些简单的规则。通过改变PCB和走线结构,可以测量2~100A之间的电流。一种可行的方法是将IC直接放在某根PCB走线上。我们将这种方式叫“设计 1”见图1。

图1 一种可行的PCB设计:走线位于Minisens的正下方

  在这种方式中,PCB板用于隔离,可测量的电流大小为2~20A。

  将变送器放在电路板的另一面,但仍然直接跨在走线上,这样可以改善绝缘性能。电路板的厚度及走线本身都会影响灵敏度,因为它们都直接影响着检测元件(位于IC内部)与初级导体之间的距离。值得注意的是,较窄走线的灵敏度更高。不过,走线越窄,温度升得也越快。

  走线的温升决定了可以连续施加的最大安全电流值。采用变宽度走线可以获得灵敏度与走线温升的最佳组合。铜的温度受限于PCB材料的玻璃转变温度(135℃),而Minisens的最大工作温度为125℃。出于安全边际考虑,最好让走线工作在低于115℃的温度下(UL建议不超过100℃)。为维持这些温度水平,走线的宽度、厚度和形状都非常重要。

  对于小电流(低于10A),建议用初级走线做几个圈,以增加初级电流产生的磁场。对单根走线,Minisens周围走线的宽度最好大于其下方的走线宽度(以降低温升)。我们将这种设计叫做“多圈”。

  举例来说,可以采用四圈设计如图2所示,Minisens位于PCB的反面,这是一种高绝缘度的结构。另一种增加灵敏度的方法是使用较窄的走线。

图2 四圈走线设计/高绝缘度结构

  高绝缘性来自于经改善的爬电间距与隔离间距,因为初级导体(四圈走线)位于低压电子元件所在PCB板的反面。这种情况下,确保两种距离都为8mm(PCB的特性:1.6mm/70μm Cu)(走线宽度:Minisens下为0.78mm,其他地方为3mm)。

  采用这种设计,在85℃环境温度下,可以测量5A的额定初级电流(条件:自然通风,30℃走线温升)。测量范围为±15A,灵敏度为130mV/A,对15A电流输出产生2V电压。

  用其他技术可以进一步增加灵敏度,如在Minisens上方用一个“跳线”与PCB走线构成一个回路,或在不同PCB层之间实现多个圈。测量较大电流时,可以将变送器定位于距初级导体较远的地方。

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关键词: MEMS ASIC 电力电子 LEM

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