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用C51系列单片机设计物体分级设备的测量光幕

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作者:陶志福时间:2007-09-24来源:国外电子元器件收藏

  摘要:首先介绍了光幕测量高度的原理,给出了高度的一种实现方法,分析了由该方法设计的系统结构和主要性能。从而彻底解决了相邻通路间的干扰,提高了测量精度。

    关键词:

1 引言

  光幕是电子测量系统中应用比较多的一种设备。利用光幕可以测量恒速传送带上的物体高度、长度或宽度等一系列数据,以便为后面的电子系统提供相应的参数。本文给出了一种利用实现物体高度测量的光幕测量方法。

2 光幕测量物体高度的基本原理

  图1所示是一个用普通光幕测量物体高度的测试原理结构示意图。图中,光幕的一边等间距安装有多个红外发射管,另一边相应的有相同数量同样排列的红外接收管,每一个红外发射管都对应有一个相应的红外接收管,且安装在同一条直线上。当同一条直线上的红外发射管、红外接收管之间没有障碍物时,红外发射管发出的调制信号(光信号)能顺利到达红外接收管。红外接收管接收到调制信号后,相应的电路输出低电平,而在有障碍物的情况下,红外发射管发出的调制信号(光信号)不能顺利到达红外接收管,这时该红外接收管接收不到调制信号,相应的电路输出为高电平。当光幕中没有物体通过时,所有红外发射管发出的调制信号(光信号)都能顺利到达另一侧的相应红外接收管,从而使内部电路全部输出低电平。这样,通过对内部电路状态进行分析就可以得出物体的高度信息。由于上下相邻光路可能会相互干扰,因此,选取的红外发光管的发射角度要小于15



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