NI将于4月主办第二届“设计、验证及测试论坛”

美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）宣布主办第二届“设计、验证及测试论坛” （Design Validation Test Forum，即DVTF 2005）。延承2004年第一届DVTF的成功之势，本届论坛将于2005年4月15日在上海国际会议中心举行，NI诚邀行业内外相关领域的多家优秀企业，如英特尔（Intel）、科梁科技（AEETEK）等共同参与，为广大测试测量行业的工程技术人员提供一个绝佳的学习与交流平台。

主办商负责人，NI中国分公司技术市场经理朱君女士表示：“虚拟仪器技术一直与最尖端的商业科技密不可分，为工程师们和科学家们提供更强大的工具，完成测试测量和自动化工作。在此次活动中，NI携手其他行业先锋共同展示最新技术，希望能够提供一个学习的平台来帮助用户解决实际应用中的挑战。”

此次论坛将分为热点技术专题与实时应用专题同时进行。10余场内容丰富的专题研讨会，现场的产品展示，与各参展商和行业内人士的面对面交流，必将使您不虚此行，绝对是不容错过的行业盛会！

热点技术专题为设计、测试以及自动化行业的软/硬件工程师、以及希望学习测试测量行业发展趋势和最新技术的专业人士而度身定制，专题包括：最新总线标准—PCI Express, 了解如何运用这一技术来减少测试工作的时间，并解决新的应用问题；运用Microsoft.NET技术来开发测试及测量应用；运用了LabVIEW和FPGA的NI最新RIO技术，使您自定义测量硬件电路，等。实时应用专题针对希望搭建一个具有鲁棒性、可靠性和确定性的测量、控制及自动化系统的专业人士，在这一主题的论坛中，您将了解到NI及其它行业专家为测量及控制系统所提供的实时平台。

多年来，NI依托其旗舰产品LabVIEW图形化开发环境和全系列的模块化硬件，为世界各地的用户提高生产效率并降低成本。此次NI中国联合其他行业先锋举办技术论坛，也是为了更好地服务于本地用户，提供最大限度的支持。本次活动由《电子产品世界》杂志承办，请登陆www.edw.com.cn/dvtf.htm，或致电010-68578429报名参与。