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理解RF器件性能测量过程中的纹波:理论与实验(上)

作者:Habeeb Ur Rahman Mohammed博士 时间:2014-04-01来源:电子产品世界

  引言

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/235699.htm

  在器件参数描述(例如:增益、线性和回波损耗等)期间,我们有时会看到纹波。出现这些纹波的原因是,信号在线缆、连接器、评估板线路、受测器件()和封装内传播时存在多次反射情况。这些互连结点上的阻抗错配,导致这些纹波的出现。

  图1a显示了一条基本传输线路,其中,VS为电源,ZS为电源阻抗,Z0为传输线路特性阻抗,ZL为负载阻抗。为了让输入入射波完成传输,传输线路应匹配电源和负载,例如:ZS=ZO=ZL=50Ω。如果传输线路(可以为图1b所示共轴线路,或者图2b所示微波传输带线路)的特性阻抗不等于50Ω,则错配层存在反射。该错配层可被看作是具有不同介电性能的两个介质的边界。特性阻抗不为50Ω的传输线路部分可表示为绝对介电常数为ε2的介质,而50Ω电源和负载则可表示为绝对介电常数为ε1的介质(图1d和1e)。 通过研究阻抗错配层的电磁波相互作用情况,我们可以更清楚地理解阻抗错配带来的反射问题。在这些层,电磁波相互作用导致介质边界出现波反射和传输(分别使用反射系数Γ和传输系数τ量化表示)。反射系数是反射Er和入射Ei电场强度的比率。传输系数是传输Et和入射Ei电场强度的比率:



关键词: RF DUT TEM

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