理解RF器件性能测量过程中的纹波：理论与实验(上)

　　引言

　　在RF器件参数描述(例如：增益、线性和回波损耗等)期间，我们有时会看到纹波。出现这些纹波的原因是，信号在线缆、连接器、评估板线路、受测器件(DUT)和封装内传播时存在多次反射情况。这些互连结点上的阻抗错配，导致这些纹波的出现。

　　图1a显示了一条基本传输线路，其中，VS为电源，ZS为电源阻抗，Z0为传输线路特性阻抗，ZL为负载阻抗。为了让输入入射波完成传输，传输线路应匹配电源和负载，例如：ZS=ZO=ZL=50Ω。如果传输线路(可以为图1b所示共轴线路，或者图2b所示微波传输带线路)的特性阻抗不等于50Ω，则错配层存在反射。该错配层可被看作是具有不同介电性能的两个介质的边界。特性阻抗不为50Ω的传输线路部分可表示为绝对介电常数为ε2的介质，而50Ω电源和负载则可表示为绝对介电常数为ε1的介质(图1d和1e)。 通过研究阻抗错配层的电磁波相互作用情况，我们可以更清楚地理解阻抗错配带来的反射问题。在这些层，电磁波相互作用导致介质边界出现波反射和传输(分别使用反射系数Γ和传输系数τ量化表示)。反射系数是反射Er和入射Ei电场强度的比率。传输系数是传输Et和入射Ei电场强度的比率：