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SiC MOSFET应用技术在雪崩条件下的鲁棒性评估

  • ​本文将探讨如何在雪崩工作条件下评估SiC MOSFET的鲁棒性。MOSFET功率变换器,特别是电动汽车驱动电机功率变换器,需要能够耐受一定的工作条件。如果器件在续流导通期间出现失效或栅极驱动命令信号错误,就会致使变换器功率开关管在雪崩条件下工作。因此,本文通过模拟雪崩事件,进行非钳位感性负载开关测试,并使用不同的SiC MOSFET器件,按照不同的测试条件,评估技术的失效能量和鲁棒性。
  • 关键字: MOSEFT  VDS  UIS  DUT  

Verkotan采用罗德与施瓦茨的PWC技术进行5G NR OTA基站测试

  • 测试与测量方案供应商罗德与施瓦茨(Rohde & Schwarz)近期推出了R&S PWC200,这是市场上第一款平面波转换器(PWC)。Verkotan是第一家选择此技术的独立测试机构,以空口(OTA)的方式测试5G NR FR1基站。罗德与施瓦茨PWC200扩展了其5G NR测试产品组合,该产品是为5G大规模MIMO基站测试而开发的,用于生产和研发环节。 平面波转换器支持大部分3GPP认证项目,并具有156个宽带Vivaldi天线组成的双向阵列,这些天线放置在靠近被测设备(D
  • 关键字: PWC  OTA  DUT  NR  

罗德与施瓦茨和联发科技共同验证 5G NR 动态频谱共享(DSS)

  • 如今,4G LTE网络已经成功部署,从而6 GHz以下的频率被大量利用,如何在这些低频段上部署5G NR?这给全球网络运营商带来了新的挑战。动态频谱共享(DSS)是一种使移动网络运营商可以在同一频带中使用LTE和5G NR的技术。 标准化共存方法的深入验证是该技术成功的关键。罗德与施瓦茨和联发科技科公司通过利用独特的专业知识共同合作,并进行了验证,该验证使用了罗德与施瓦茨的R&S CMX500 5G NR无线电通信测试仪平台以及联发科技提供的被测设备(DUT)。几乎所有初始的5G NR FR1部
  • 关键字: DSS  DUT  

鼎阳科技发布SSG5000X系列射频模拟/矢量信号源

  • 近日,深圳市鼎阳科技股份有限公司发布SSG5000X系列射频模拟/矢量信号发生器。射频输出频率高达6 GHz, 内部基带源带宽150 MHz。SSG5000X 可作为本地振荡器(LO),发射器(transmitter),或干扰信源,广泛应用于测试器件、接收机及各种通信系统,适用于生产和研发场景。强大的ARB模式消费类电子发展迅速,工程师在验证产品性能时,需要模拟多种通信标准和协议信号。SSG5000X 支持协议文件播放,内置常用协议文件, 可产生5G NR, LTE, WLAN, WCDMA,
  • 关键字: LO  发射器  DUT  

CAN一致性测试隔离和非隔离供电的电路区别

  •   汽车电子中有隔离和非隔离DUT,常用于在与发动机、BMS等容易产生瞬时高压的设备部分会采用隔离的通讯连接,隔离DUT的目的是为防止电磁干扰影响DUT通信信号以及瞬时高压脉冲损坏DUT;而非隔离DUT,则常用于与低压车载电子设备的通信。根据DUT类型,CANDT设计两种供电模式,隔离供电与非隔离供电,本文与读者浅谈隔离与非隔离电路原理和接线方式的区别,以及其对测试的影响。常见的CAN设备分为隔离和非隔离两类。  一、隔离供电DUT设备  隔离ECU内部的收发器和控制器之间有隔离模块(包括数字隔离芯片和隔
  • 关键字: CAN  DUT  

如何准确测量CAN节点的信号边沿参数

  •   CAN总线设计规范对于CAN节点的信号边沿各项参数都有着严格的规定,如果不符合规范,则在现场组网后容易出现不正常的工作状态,各节点间出现通信故障。具体要求如表 1所示,为测试标准“GMW3122信号边沿标准”。   表 1 GMW3122信号边沿标准   所以每个厂家在产品投入使用前,都要进行CAN节点DUT(被测设备)的信号边沿参数测试。一般是使用GMW3122信号边沿测试的CAN测试方法,如下描述:   如图 1所示,我们以信号跳变过程的20% ~ 80%定义为该
  • 关键字: CAN  DUT  

ICE时代正在悄然离去

  •   硬件仿真是唯一一个可以部署在多个操作模式中的验证工具。事实上,它可应用于四个主要模式中,而且模式间的结合使用可以增加灵活性。基于以下两个特征对硬件仿真的应用模式进行分类:对映射到硬件仿真器中被测设计(DUT)的激励类型,以及DUT的响应过程。具体包括:   1.内电路硬件仿真(ICE)模式: 使用物理目标设备,通过频率适配器来驱动硬件仿真器中的DUT。   2. 基于事务的硬件仿真或加速模式: 使用虚拟目标设备,通过验证IP来驱动硬件仿真器中的DUT。   3. 软件仿真测试平台加速模式:通过程
  • 关键字: ICE  DUT  

理解RF器件性能测量过程中的纹波:理论与实验(下)

  •   本小节将计算图1e所示介电模块多次反射的反射和传输系数。图2显示了该介电模块内正常入射层波多次相互作用情况。
  • 关键字: RF  DUT  TEM  

理解RF器件性能测量过程中的纹波:理论与实验(上)

  •   在RF器件参数描述(例如:增益、线性和回波损耗等)期间,我们有时会看到纹波。出现这些纹波的原因是,信号在线缆、连接器、评估板线路、受测器件(DUT)和封装内传播时存在多次反射情况。这些互连结点上的阻抗错配,导致这些纹波的出现。
  • 关键字: RF  DUT  TEM  

新的吉时利电源允许高达10kV的安全击穿测试

  •   先进电气测试仪器与系统的世界级领导者-吉时利仪器日前宣布,推出两款优化的高压电源,用于高电压的设备和材料测试,高能物理和材料科学研究。2290-5 5kV型电源和2290-10型 10kV电源非常适合于功率半导体器件的高电压击穿测试。包括由当前和下一代宽禁带半导体材料组成的器件,例如碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN),专为“绿色”、高效节能发电、传输系统、混合动力和全电动汽车使用。  2290系列电源所拥有的许多内置功能是市场上其他提供10kV电压产品所不具备的。例如,作为标准配置
  • 关键字: 吉时利  2290  SMU  DUT  

吉时利推出经济型双通道与三通道可编程电源最高性价比产品

  • 吉时利仪器公司,作为先进电性测试仪器与测试系统的行业领导者,日前宣布2200系列可编程直流电源又增加两款多通道电源产品。同现有竞争产品相比,这两款电源产品具有更大的输出准确度优势,不仅价格优势明显,而且提高了易用性,非常适合在电路设计、大学生实验室、材料研究以及器件测试等要求使用一台以上电源的场合应用。
  • 关键字: 吉时利  测量仪器  DUT  

支持4个双天线DUT的非信令2G/3G/LTE综测方案

  • 智能手机和平板电脑的旺盛市场需求迫使生产线寻求更大吞吐量的无线综测解决方案,专攻生产线测试解决方案的Litepoint公司今年6月14日应时而动,推出了同时支持1、4和8部DUT的2G/3G/LTE智能手机和平板电脑无线综测仪I
  • 关键字: 方案  2G/3G/LTE  DUT  天线  支持  

基于NI TestStand 和LabVIEW开发模块化的软件架构

  • 当今企业所面临的挑战之一是测试成本越来越高。由于设备的复杂性不断增加,所以测试这些设备的成本也在不断提高。因为测试对于产品质量至关重要,而更加复杂的电子设备需要更新式、更先进的测试仪器,所以产品的测试成本过高,无法与其较低的制造成本保持一致。
  • 关键字: NI  测试系统  DUT  

如何提高射频测试仪的精度

  • 电子产品世界,为电子工程师提供全面的电子产品信息和行业解决方案,是电子工程师的技术中心和交流中心,是电子产品的市场中心,EEPW 20年的品牌历史,是电子工程师的网络家园
  • 关键字: 射频测试仪器  射频测量  DUT  
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