R&S全面助力万物互连时代的IC设计应用

　　“中国集成电路设计业2016年会暨长沙集成电路产业创新发展高峰论坛”将于2016年10月12-13日在长沙-湖南国际会展中心举办。《国家集成电路产业发展推进纲要》和《中国制造2025》的出台，为我国集成电路产业实现跨越式发展注入了强大动力，本次年会以“湘江芯硅谷，成就芯梦想”为主题，深入探讨集成电路产业，特别是集成电路设计业面临的机遇和挑战;提升创新能力，增强中国集成电路产业链的综合能力，以满足市场的需求和提高国际竞争力。大会将对促进产业整合，提升核心竞争力，实现产业规模化快速发展产生深远影响。

　　罗德与施瓦茨公司(Rohde & Schwarz，R&S)作为全球最大的电子和无线移动通信测试设备厂商之一，将在IC年会上展示其领先的针对IoT 和通用IC设计与测试的产品和解决方案，包括IoT芯片测试技术，射频微波芯片测试技术，收发机芯片测试技术，收发机芯片产线测试方案，先进相位噪声测试技术，先进时域测试技术等方案。同时，针对频域，时域和信号域的测试，R&S公司带来了4款明星产品用于现场的演示和交流：

　　ZNB20 矢量网络分析仪

　　SMW200A 矢量信号发生器

　　FSVA40 信号与频谱分析仪

　　RTO2044 数字示波器

　　与此同时，R&S公司将在“IC设计与封装测试”专题论坛中，以“R&S先进IC测试方案，全面助力万物互连时代的IC设计应用”为主题，全面介绍R&S公司在IoT和通用IC设计与测试领域的产品和解决方案，特别包含可以加速IC 设计的独有方案，期待与您分享，敬请关注。

　　通过参观和交流，来宾将体验到R&S公司的一流产品、服务以及先进理念，领略R&S公司打造的全方位的IC测试方案平台，来共同促进IC产业的创新与发展。

　　诚邀您光临R&S公司展台：湖南国际会展中心 No.78