瞬态电磁脉冲对单片机的辐照效应实验及加固方法

静电放电产生的电磁辐射可产生很强的瞬态电磁脉冲（ESD EMP）。随着电子技术的高速发展,ESD EMP的危害也日趋严重。ESD EMP具有峰值大、频带宽等特点,作为近场危害源,对各种数字化设备的危害程序可与核电磁脉冲（NEMP）及雷电电磁脉冲（LEMP）相提并论[1]。因此,研究ESD EMP对电子系统的各种效应及防护方法已成为静电防护中的一个热点问题。笔者以单片机系统为实验对象,进行了ESD EMP对单片机系统的辐照效应实验,并在实验的基础上研究了ESD EMP的防护和加固方法。

1 实验配置及方法

1.1 实验配置

实验配置如图1所示。它主要由台式静电放电抗扰性实验标准装置、静电放电模拟器和数据采集系统组成。

根据国际电工委员会标准IEC1000-4-2,水平耦合板为铝板,其尺寸为1600mm×800mm×1.5mm,置于一张水平放置的高为80cm的木桌上。静电放电模拟器选用日本三基公司的NoiseKen ESS-200AX,用于产生模拟ESD EMP。数据采集系统选用型号为TDS680B的数字存储示波器,采样速率为5Gs/s,带宽为1GHz,用于测量干扰波形。

如果选用现成的单片机系统作为实验对象,由于其没有故障自动诊断功能,只能观察到很少的几个故障现象,无法对ESD EMP的效应机理进行深入研究。因此,本人设计了专门用于电磁脉冲效应实验的单片机系统。该系统具有强大的故障自动诊断功能,几乎能够自动显示单片机系统在电磁脉冲作用下可能出现的所有故障现象。

1.2 实验方法

ESD EMP对单片机系统的效应实验,采用辐照法。将被试单片机系统放置在水平耦合板上,用静电放民模拟器对垂直耦合板进行放电。静电放电产生的辐射场直接作用于被试单片机系统,单片机将自动显示其受ESD EMP干扰的情况。

2 ESD EMP对单片机系统辐照效应实验

2.1 实验结果

利用上述实验装置,进行了ESD EMP对单片机系统的辐照效应实验。ESD模拟器工作于人体模型放电模式,放电方式为接触放电（对垂直耦合板）。被试单片机与放电点的距离为10cm。实验环境为：温度24.0℃,湿度45.2%。

用于电磁脉冲效应实验的单片机系统的开发成功,顺利地观察到了单片机系统在ESD EMP作用下出现的十大故障现象。它们分别是：①重启动;②死机;③控制状态改变;④A/D误差增大;⑤串行通讯出错;⑥定时器CTC工作失误;⑦外部中断误触发;⑧外RAM存储器内容被改定,读外RAM出错,写外RAM出错;⑨工作寄存器R0～R7,特殊功能寄存器SFR和片内RAM的20～7F单元内容出错;⑩程序存储器E2PROM内容被改写。

表1给出了上述故障出现时ESD模拟器的最小放电电压。

表1 单片机出现故障时ESD模拟器的最小放电电压

E2PROM内容被改写的情况出现的概率很小,到目前为止共观察到7次,其中放电电压最小的一次2.5kV。实验环境为：温度31℃,湿度62%。由于出现的次数较少,严格地讲,2.5kV还不能作为E2PROM内容被改写的最小放电电压。