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宏力建立国内首个0.18微米超低漏电嵌入式闪存工艺平台

—— 0.18微米“超低漏电”嵌入式闪存工艺平台由宏力半导体自主开发完成
作者:时间:2012-06-22来源:IC设计与制造收藏

中国上海,2012年6月21日-上海半导体制造有限公司(以下简称“半导体”),专注于差异化技术的半导体制造领先企业,宣布成功建立国内首个0.18微米“超低漏电” (Ultra-Low-Leakage,ULL) 闪存工艺平台。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/133841.htm

0.18微米“超低漏电”闪存工艺平台由半导体自主开发完成。 此次推出的“超低漏电”工艺平台在宏力半导体现有的0.18微米“低功耗”(Low-Power,LP)工艺平台上实现了进一步技术提升,其N/P晶体管在1.8伏操作电压下可分别输出与“低功耗”工艺等同的525 / 205 μA/μm驱动电流,但其N/P管静态漏电分别仅为0.6pA/μm和0.2 pA/μm,达到业界领先水平。

0.18微米“超低漏电”闪存工艺平台生产的芯片具有超低漏电(小于1pA/μm)、静态功耗低的特点,在电池容量有限的情况下能够提供更长的待机时间。基于该平台生产的低功耗微控制器(MCU)、触摸屏控制芯片(Touch Panel Controller)主要适用于平板电脑、数码相机和手机等手持式便携设备。

“0.18微米‘超低漏电’嵌入式闪存工艺平台可为客户提供高可靠性、低成本的解决方案,进而大幅提升客户产品的市场竞争力。”企业发展暨战略单位副总经理傅城博士表示,“目前,已有多家客户在该平台试产,各项指标均达到或超过客户要求。”

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关键词: 宏力 嵌入式

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