- 总线实现片内硬件调试支持单元设计,片上系统的出现使得芯片可以实现更加复杂的功能，获取更高的性能，但同时其内部信号也变得越来越难以观察和控制，相应的测试和调试工作也遇到了难以克服的时间复杂性困难。国际半导体技术路线图( Internat io nal Te
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单元 设计 支持 调试 实现 硬件 总线
- Cortex―M3的SRAM单元故障软件的自检测研究,引言
目前，对于存储单元SRAM的研究都是基于硬件电路来完成，而且这些方法都是运用在生产过程中，但是生产过程并不能完全杜绝SRAM的硬件故障。在其使用过程中，如果SRAM硬件出错，将导致程序出错而且很难被发现
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软件 检测 研究 故障 单元 M3 SRAM Cortex
- 摘要：Proteus可实现单片机仿真，并提供软件调试功能，支持第三方的软件编译和调试环境，如Keil C51 uVision2。本设计是以89C51单片机为控制单位，建立点阵型LCD12864的坐标并点亮矩阵点，实现核信号在点阵型LCD1286
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处理 显示 单元 LCD 输入 Proteus 信号 基于
- 相变存储器(PCM)单元中储存多个位元的方法,BM苏黎世研究中心的科学家们日前表示，已经发现能够可靠地在相变存储器(PCM)单元中储存多个位元的方法。该小组采用90nm工艺技术，在200k单元阵列中实现了每存储单元为四层(2位元)，并表示已开发出一种编码方法，能克
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多个 方法 储存 单元 存储器 PCM 相变
- 具有硬件矢量浮点运算单元的MCU在医疗电子中的应用,本文给出了量化的科学测试方法以帮助嵌入式工程师考虑如何选择适合于特定应用的控制器来构建系统。即使所测试的嵌入式系统差异很大，确凿的数据仍可以帮助系统评估者比较相同的性能特征。
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MCU 医疗 电子 应用 单元 运算 硬件 矢量 浮点 具有
- 高性能32位移位寄存器单元的设计,1 引言 本文给出了一种可用于32位以上CPU执行单元的移位寄存器电路，并针对CISC指令集INTEL X86进行了优化(由于RISC指令集中移位类指令实现比较简单，故没有在文中讨论);采用指令预处理的技术和通过冗余位，能很方
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设计 单元 寄存器 移位 高性能
- 基于ARM的十回路智能配电监控单元设计,本文以内含ARM7TDMI—STM CPU的微控制器LPC2132芯片作为系统主控制器，针对电力系统数据信号的采集和数据通信，以及电力系统状态监测为研究主题，研究设计出了一种具备智能配电，并可同时监控十个用户回路的终端
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监控 单元 设计 配电 智能 ARM 回路 基于
- Wi—Fi(Wireless Fidelity)技术是基于IEEE 802.11协议的。无线接入和高速传输是Wi—Fi的主要技术优点。其中IEEE 802.11b最高速度为11 Mbps，IEEE 802.11a与IEEE 802.11g的最高速度为54 Mbps。因此Wimdash
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应用 单元 网络 技术 WiFi
- 摘要：提出一种将Wi—Fi技术与EPON技术融合的接入网络应用方案，使得EPON系统在原有的有线接入的基础上增加了无线接入的服务。在此基础上，简要描述了EPON和Wi—Fi各自的技术特点，并着重描述了本方案中各
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应用 方案设计 单元 网络 Fi 技术 Wi
- 为适应中国民航对单脉冲二次雷达的双机热备份功能要求，采用现场可编程门阵列(FPGA)，并使用硬件描述语言对可擦除可编程逻辑器件(EPLD)进行编程控制，以实现单脉冲二次雷达切换单元的主要功能：响应监控系统的切换命令，当设备故障时自动或者手动地切换到非故障机柜，使雷达连续地输出航迹数据。现场可编程门阵列的运用增强了射频切换单元控制的灵活性与可靠性，大大提高系统的检测性能与处理性能。
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FPGA 实现 单元 切换 雷达 射频 航管
- 摘要：为弥补传统扫描驱动方式所引起的主现视觉亮度下降的缺陷，几乎所有高端室外LED显示屏均采用了静态锁存的驱动方法，但这又使驱动电路的规模大大增加。为了解决此问题，文章从“塔尔博特-普拉窦定律”
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设计 研究 单元 显示 稳态 LED 双行
- 标准单元ASIC和FPGA的权衡及结构化ASIC,多种制造FPGA的深亚微米工艺，如Xilinx公司最新Spartan-3系列产品采用的90纳米工艺（参考文献1），使每块芯片上的门电路数量变得越来越大。如果您的设计使用FPGA的嵌入式存储器阵列和扩散式模拟及数字功能模块，如DL
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ASIC 结构化 权衡 FPGA 标准 单元
- SAE预测，到2010年，汽车中的电子设备平均将占到总价格的 40%!以美元为单位，2008年独立半导体器件的销售额约为200亿(源自Databeans公司的市场调查)。这一数字因为众所周知的原因在2009年将有所下降，但这是暂时性
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设计 测试系统 单元 控制 汽车电子
- 1 引言
大型电力电子设备，如大功率高压变频器往往要求有极高的可靠性，影响电力电子设备失效的主要形式是热失效，据统计，50%以上的电子热失效主要是由于温度超过额定值引起的。随着温度的增加，失效率也
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仿真 计算 单元 变频器 高压 基于
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