RapidIO技术测试思路

　　图4：串行RapidIO模板定义

　　图5：串行RapidIO测试结果示例(使用安捷伦基于示波器的自动测试软件)

　　RapidIO互连通道测试

　　物理层结构正日益成为高速数字系统性能的瓶颈。在较低的信号速率时，这些互连的电

　　长度很短，驱动器和接收机一般是导致信号完整性问题的最主要因素。但随着时钟速率、总

　　线速率及链路速率突破每秒千兆大关，物理层特性测试正变得日益关键。

　　时域分析一般用来描述这些物理层结构的特征，但通常情况下，设计人员在测试时往往

　　只考虑器件工作在其被期望的工作模式上时的情况。为了获得一个完整的时域信息，必须要

　　测试反射和传输(TDR和TDT)中的阶跃和脉冲相应。

　　为了全面描述物理层结构的特征，还必须进行频域分析。S参数模型说明了这些数字电

　　路结构所展示出来的模拟特点包括：不连续点反射、频率相关损耗、串扰和EMI等性能。

　　为使设备性能符合标准，眼图增加了重要的统计分析功能。为利用全面特性检定技术改

　　善仿真能力，可以采用基于测试结果的S参数或RLCG模型提取技术。

　　随着在多种工作模式下进行数字和模拟综合分析(时域和频域)变得越来越重要，要完

　　成这些测试功能，通常需要使用多种测试仪表，同时操作多种仪表正变得越来越困难。物理

　　层测试系统PLTS是为了解决这种困难而设计的。它使用已获专利的变换算法，自动地在频

　　域和时域里表示在所有可能的工作模式(单端、差分、共模和模式转换)下所得到的前向和

　　后向、传输和反射的测试数据。强大的虚拟码型发生器功能可以把用户定义的二进制序列应

　　用到被测的数据上，形成仿真的眼图。同时，可以提取高精度的RLCG模型，用来提高建

　　模的仿真的精度。图6是RapidIO互连通道测试要求：

　　图6：串行RapidIO互连通道损耗规范(以3.125Gbps为例)

　　图7：串行RapidIO互连通道测试结果(使用Agilent物理层测试系统)

　　安捷伦物理层测试方案功能