新闻中心

EEPW首页 > 测试测量 > 设计应用 > 用在各种ATE中的集成边界扫描(06-100)

用在各种ATE中的集成边界扫描(06-100)

—— 用在各种ATE中的集成边界扫描
作者:时间:2008-04-10来源:电子产品世界

  广泛应用在板级测试和系统内编程中。这些应用典型地包含了具有能力的器件与群集器件测试之间的连接性测试,来验证与非器件(存储器和逻辑器件)的连接性。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/81439.htm

  测试性和可实现测试覆盖范围是(被测单元)特定的,并依赖于边界扫描实现的水平。特别是在产品测试中,利用连接到上的外设I/O进行测试来扩展边界扫描测试覆盖范围。最近几年,第3方边界扫描工具的集成流行于板级产品测试设备,如内电路测试器。往往这样的集成,比独立应用的边界扫描系统优越性并不多。某些方案靠组合边界扫描和资源能改善测试覆盖范围,但会引起新的问题,如非常有限的便携性。

  边界扫描系统

  一个典型独立应用的边界扫描系统包括:PC运行的边界扫描软件,边界扫描控制器,供电的电源和连接UUT到边界扫描控制器和电源的缆线。这样的系统支持适用UUT测试资源的各种测试和系统内编程应用,这包括互连测试、存储器和逻辑群集器测试、闪存编程和PLD编程。
某些边界扫描系统提供扩展测试覆盖范围的工具。其应用包括振荡时钟信号的验证、开关或跳线设置测试和具有操作反馈的光指示器照明(图1)。


上一页 1 2 3 4 5 6 下一页

关键词: ATE 边界扫描 UUT

评论

技术专区

关闭