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用在各种ATE中的集成边界扫描(06-100)

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作者:时间:2008-04-10来源:电子产品世界收藏
  电压电平可编程性和可考虑的驱动器强度,结合过流保护或其他安全测量是所希望的。采用HYSCAN I/O资源测试程序,不需要考虑I/O的物理实现性。

  对于测试图形,无论通过I/O模块或内电路测试器的测试通道提供I/O都没有关系。基于网表产生测试程序,而网描述对测试仪I/O资源是可接入的。测试仪配置文件和连线表提供测试仪I/O到网的实际分配信息。只有测试仪配置和连线表需要适配实际的测试装置,而测试程序本身是不需要适配的。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/81439.htm

  图4示出采用测试仪I/O资源的实例。此实例包含可独立应用系统、内电路测试系统和功能测试系统的3种测试仪配置。

  只需要一套测试程序,可以在所有3个测试系统中执行同样的测试,因为测试程序中I/O图形寻址是由自测试仪配置控制的。在该实例中,可独立应用的边界扫描系统包括PXI边界扫描控制器,带192通道的PXI数字I/O模块、PXI电源通道连接上的外设接口连接器。测试程序控制UUT的扫描链和I/O模块的测试通道。



关键词: ATE 边界扫描 UUT

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