手机芯片UV胶绑定可靠性分析
本文主要探讨在无铅工艺下，比较不点胶、UV胶绑定和底部填充对手机主板芯片的焊点可靠性的影响（采用滚筒跌落试验作可靠性验证和切片试验等进行失效分析），同时探讨手机芯片边角UV胶绑定的相关工艺和可靠性问题。
实验设计
对同一产品的一个批次随机选择6块手机主板，实施三种工艺流程：2块不点胶或底部填充，2块对主芯片底部填充，2块对主芯片的四个角作UV胶绑定，如表1所示：
验证流程
参照标准GB2423.8，选用滚筒跌落仪进行可靠性验证，具体流程如下：1、确保选择的板子通过AOI、目检、X-Ray检查， 并通过所有功能测试；2、对选择的6块主板：2块不做点胶；2块做底部填充；2块做UV胶边角绑定，烘干固化后进行试验；3、模拟手机组装固定方式制作主板的跌落夹具； 4、按照试验经验选择1,000mm高度的滚筒进行跌落试验; 5、每跌落100次做全功能测试，直到出现问题为止；6、对出现不良的主板进行失效分析。
试验结果
实际滚筒跌落试验结果如图2所示。
主板跌落后测试结果：6部跌落试验样机主板跌落失效信息均为无法开机。
失效分析
经过测试技术人员对失效主板进行分析，确认为主芯 片或闪存失效导致无法开机。对失效位置进行切片（见图3）验证，结果如下：
A1板切片后，主芯片焊点U17在焊盘和锡球焊接处有开裂现象，如图4所示。
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