新闻中心

EEPW首页 > 模拟技术 > 设计应用 > 放大器的指标测试

放大器的指标测试

作者:时间:2013-11-12来源:网络收藏

的测试指标可以分为两类:线性和非线性

线性指标的测试基于S 参数的测量,采用常规矢量网络分析议来完成。

对于非线性指标的测试,传统测试方案采用频谱仪加信号源方法,但这种方案有很多缺点如无法实现同步扫频、扫功率测试,不能进行相位测量如幅度相位转化(AM/PM)测量。

RS ZVB采用创新的硬件结构,其输出功率很高、功率扫描范围宽,因而无需另外单独使用前置,一次扫描即可确定功率压缩特性。ZVB采用了强大的自动电平控制设计以及高选择性、高灵敏性的接收机,因而可在较宽的动态范围下进行的谐波测试而无需使用外部滤波器。

  端口匹配特性测量

  端口匹配特性主要测试端口的S11与S22参数。如端口1的S11参数等于反射信号b1与入射信号a1之比:

放大器的指标测试

  S11参数也可称为输入反射因子G1。S11为复数,工程上通常用回波损耗(RL)和驻波比(VSWR)来表达端口的匹配程度。S11与这两个参数的关系如下:

放大器的指标测试

  以上两个参数与S11的换算由ZVB自动完成,用户只需要在[Format] 菜单中选择[dB Mag]->回波损耗,[SWR]->驻波比,就可以显示相应的测试曲线。ZVB提供轨迹统计功能[Trace Statistics],可自动显示轨迹的最大值、最小值和峰-峰值,并且可以通过设置 [Eval Range],来调整统计频率范围。该功能对带限器件(如滤波器)的带内非常有用。

  在电路设计的过程中,精确输入阻抗信息对于设计人员更为重要。比如:在手机板设计中,设计人员要精确测试前端的输入、输出阻抗,然后根据输入、输出阻抗信息来设计对应的匹配网络,达到手机的最大功率发射和最佳的整机灵敏度。输入阻抗与S11的关系如下:

放大器的指标测试

  用户通过选择[Format] 键中的[Smith]菜单来显示阻抗测试轨迹,通过设置Marker可以方便的测得每一频点对应的输入电抗和电阻。另外ZVB标配的虚拟加嵌功能,能模拟在输入、输出端口加上虚拟的匹配网络之后,整个网络的性能。该功能大大简化了设计人员的工作量,无需实际的电路调整,就能预测调整后的DUT性能。用户通过选择[Mode]菜单中的[Virtual Transform]来激活该功能。

  传输参数测量

  除了端口匹配特性的测量,放大器前向放大和反向隔离特性也可分别由测试S21和S12得到。前向的传输参数S21等于在端口2测得前向功率b2与端口1的激励功率a1的比值:

放大器的指标测试

  而放大器的反向隔离度等于S12绝对幅度的对数值:

电子管相关文章:电子管原理



上一页 1 2 下一页

关键词: 放大器 指标测试
分享给小伙伴们:

评论


相关推荐

技术专区

关闭