是德科技参数测试解决方案

前沿技术要求在大批量制造中以较低的测试成本提供高性能半导体器件。Keysight通过4082A参数测试系统提供更高的吞吐量和卓越的测量性能，从4070测试仪迁移到最简单的路径，包括有保证的4070/SPECS程序兼容性和数据相关性。4082F闪存单元参数测试系统通过内置半导体脉冲发生器单元（SPGU）、经济高效的脉冲发生器和可选的高频开关矩阵提供快速精确的测量。是德科技的参数测试解决方案加快产品上市和降低测试成本，包括：

• 高测试吞吐量有助于降低您的测试成本

• 克服研发和生产中的测试挑战

• 精确的低电平测量性能

• 经过全球多个客户实际验证的参数测试解决方案

• 技术娴熟的工程师组成全球支持团队

• 成系列的解决方案确保较低的过渡成本

Keysight 4080系列提供了基本参数测试所需的广泛测量功能。您可以轻松地执行直流和电容测量，例如Vth、Ids、Idoff和Cox，仅举几个例子。4080系列支持用于DC的三种类型的SMU（源监视器单元）测量其他几种仪器选项，如数字电压表（DVM）、频谱分析仪和LCR仪表，提供了增强的测量能力。

Keysight还提供解决方案支持和培训作为专业服务，以更快地启动，最大限度地提高您的生产力，并最大限度地减少系统停机时间。Keysight专家对测试设备、软件、标准和法规有深入的领域知识。服务和 Keysight的解决方案提供了真正值得信赖的系统，您可以通过主动构建现场服务计划（包括现场维修服务、远程响应团队、定时校准服务或及时的软件更新）来依赖您所做的测量。

详细方案白皮书可以参考4080系列参数测试仪（点击下载）