新闻中心

EEPW首页 > 业界动态 > 高性能、高效率!加速科技LCD Driver 测试机Flex10K-L 强势出圈

高性能、高效率!加速科技LCD Driver 测试机Flex10K-L 强势出圈

作者:时间:2023-06-19来源:收藏

全球消费电子终端需求增长以及物联网的兴起,为面板产业及DDI芯片市场带来持续的成长动能。随着应用终端在面板超高清、高流畅度、高色彩饱和度等方面的多元化消费需求与日俱增。显示驱动芯片作为显示面板的主要控制元件之一,LCD Driver芯片也在往超高集成度、稳定性等方向发展。高分辨的屏显驱动IC集成度越来越高,相应地,这类IC测试也面临着更高挑战。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/202306/447786.htm

为了满足 LCD Driver 芯片不断提出的测试需求,加速科技推出了一款大型LCD Driver 测试机——Flex10K-L。该测试系统采用先进的设计架构,具有领先的测试性能和量产测试能力,可以有效地降低高分辨率屏显驱动芯片的测试成本。

硬件资源

Flex10K-L测试整机包含MainFrame和TestHead两大部分,MainFrame机柜由工控主机、供电系统、液冷机组成,采用液冷散热,冷却效果优异,产品性能更加稳定;MainFrame通过TH线缆与TestHead连接,实现测试程序对测试机硬件资源的控制。TestHead机箱由测试板卡以及HIFIX机头组成,最高支持30个资源槽位,配备DFB、LPB、LPP、RVS、CMB、HSIF等资源板卡,HIFIX机头可兼容ND3针卡、ND4-C针卡,节省转平台治具费用。

业务资源板

在显示驱动芯片领域,LCD Driver 芯片测试对测试设备提出了高速率,高精度的要求。Flex10K-L通信带宽可达40Gbps,为DDI芯片测试带来了更强大的数据传输和计算能力;搭载的DFB资源板卡,支持256通道数字IO,最高速率可达1.2Gbps,有着业内领先的测试速度和测试向量容量;LPB板集成256通道高精度MDGT,测试精度更是达到了+/-1mv;通过这些高精度的资源板卡,实现测试中更高的速率和精确性,满足高性能DDI芯片测试的需求。

图|业务资源板详细说明

软件系统Flex-IDE

此外,配套的ATE软件系统Flex-IDE,提供行业主流开发环境,且内置丰富的开发和调试工具,方便客户进行测试程序高效开发调试。

配套pattern转换工具,支持友商Pattern&signal 直接转换,缩短开发周期。

针对工厂量产提供独立GUI,实现数据显示监控,支持定制化工厂系统连接方案,便利智能化工厂管理。

Flex10K-L支持LCD、OLED、TDDI、DDI驱动芯片的 CP/FT测试。同时,Flex10K优秀的系统架构设计,使其可以扩展更多类的资源板卡,以支持更广泛的应用,如SoC、PMIC、模拟、存储等芯片测试应用。产品将于6月29日—7月1日重磅亮相SEMICON China 2023,想了解更多关于Flex10K-L产品的信息,请与我们联系。




关键词:

评论


相关推荐

技术专区

关闭