CCD类成像器件的噪声研究
1 CCD成像器件的概念及其分类
电荷耦合器件是一种金属一氧化物一半导体结构的新型器件，其基本结构是一种密排的MOS电容器，能够存储由入射光在CCD像敏单元激发出的光信息电荷，并能在适当相序的时钟脉冲驱动下，把存储的电荷以电荷包的形式定向传输转移，实现自扫描，完成从光信号到电信号的转换。通常这种电信号是符合电视标准的视频信号，可在电视屏幕上复原成物体的可见光像，也可以将信号存储在磁带机内，或输入计算机，进行图像增强、识别、存储等处理。因此，CCD器件是一种理想的摄像器件。
普通的科学CCD器件在微光下探测能力受到限制，不适合微光成像。随着光电成像技术的发展，出现以下几种微光CCD成像器件：增强型CCD(ICCD)，电子轰击CCD(EBCCD)和电子倍增CCD(EMCCD)。
2 CCD成像器件的噪声分析
电荷耦合器件(CCD)已经普遍应用于科学成像。它在成像方面有如下几方面优势：
(1)具有比其他可用探测器更高、更宽的量子效率；
(2)仅由像素大小决定的很高分辨率；
(3)实际上没有串扰和像晕圈的分辨缺陷。
但是不管在什么样的情况下，信号出现时总是有噪声相伴随的，当然用CCD成像耦合器件也不例外。噪声是决定画质的重要因素。
CCD图像传感器的输出信号是空间采样的离散模拟信号，其中夹杂着各种噪声和干扰，而噪声会影响CCD成像器件探测微弱光的能力。
对于光电器件来说，其能否探测到足够小的辐射功率，是至关重要的问题。所以一般都把最小可探测辐射功率列为一切光电探测器件的重要参数。定义Pmin为当输出信号电压等于输出噪声电压均方根值时的探测器入射辐射功率。因此可得入射辐射功率为：
式中：P为入射辐射功率；un为噪声电压均方值；Us为输出信号电压；Pmin为最小可探测功率。Pmin越小，器件的探测能力越强，也就是探测微弱光的能力越强。由式(1)可知，在输出信号电压一定的情况下，噪声un越小，Pmin就越小，器件探测微弱光的能力也就越强。因此，对CCD信号进行处理的目的就是在不损失图像细节的前提下，尽可能地消除噪声和干扰，以提高信噪比，获取高质量的图像。为此，必须对CCD噪声的种类、特性有所了解，针对各种噪声进行相应的去噪处理。所以对CCD成像器件噪声部分的研究，有利于提高CCD成像器件的分辨率，也能提高探测微弱光的能力。
2．1 转移噪声
当电荷包由一个势阱转移到另一个势阱时，由于种种原因，会从前一个电荷包中得到一些电荷，同时还会向后一电荷包留下一些电荷。这些电荷的量都是随机的，所以会出现涨落，构成噪声。考虑到在每次转移中都包括得到电荷和失去电荷2个过程，所以涨落噪声应取为二者之和。如有完全电荷转移模型，则得失电荷相等，故噪声为单一过程的二倍。当Nε1时，各次转移过程中的涨落是独立的，则N次转移的涨落噪声为：
式中：Ns为每个电荷包中的信号载流子数；Ns0为每个电荷包中的基底载流子数。
2．2 复位噪声
复位噪声是因为开关介入电容带来的电压，当开关切到OFF后出现噪声，也是采样电路必然发生的噪声。即使是CCD图像传感器，在信号电荷检测之前，必须复位FD电源电压等，复位后恢复基准的FD电源电压，就会加上噪声kTC。
当二极管输出信号之后，为了连续接收下一个电荷包，需要将其电压复位。由MOST构成的复位电路，在工作时必然有噪声馈入输出电路。这种噪声即复位噪声可以通过相关双取样法加以消除。可以把复位过程看作通过电阻R对电容C的光电过程。
Qc(t)所产生的噪声为：
2．3 散粒噪声
即使光强度一定，由于光具有光子的粒子特性，一次储存时间内入射到光电二极管的光，其每次的光子数不会相同，这样的变动特性引发出了光的散粒噪声。
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