TKScope嵌入式仿真开发平台讲座(5)

用户在ARM内核仿真中，会遇到各种异常情况导致仿真无法进行，或仿真功能无法满足要求，主要原因是仿真器功能不全。针对用户的问题，TKScope系列在以下几个方面进行了功能强化，协助用户解决ARM仿真中遇到的各种异常问题。

1 支持多种类型ARM内核
TKScope支持全系列ARM内核的仿真，包括Cortex系列，同时支持Thumb模式。
目前，TKScopc支持ARM内核种类如下：ARM7TDMI、ARM7TDMI-S、ARM7EJ-S、ARM720T;ARM9TDMI、 ARM920T、ARM922T、ARM926EJ-S、ARM946E-S、ARM966E-S；Cortex-M1／M3／A8；PXA255、 PXA270。
TKScope后续支持ARM1O、ARM11、Cortex-R4等内核。

2 无缝嵌接多种主流IDE环境
TKScope仿真ARM内核，无缝嵌接当前多种主流IDE环境，如Kei1、ADS、IAR、CCS、TKStudio等，并具备其高级调试功能，保持您的开发平台始终如一。

3 支持任意类型Flash器件编程
TKScope支持片内／片外Flash在线编程／调试，片外Flash支持多种接口类型器件，如 NOR／NAND／SPIFlash。TKScope驱动提供绝大多数常用Flash器件的编程算法文件，同时公开Flash编程算法接口，支持用户自行编写、添加Flash算法文件。
用户可通过TKScope驱动中的[程序烧写]界面，添加需要仿真的Flash算法文件。同时，TKScope提供独立的在线编程软件K-Flash，支持Flash器件的烧写、读取、擦除等操作。K-Flash软件支持bin、hex、elf等多种类型文件的烧写。

4 支持无限制数量Flash断点
在ARM内核中，一般只支持2个硬件断点。TK-Scope支持无限制数量的Flash断点和RAM断点，突破硬件断点数量的限制，让用户调试更加方便。TKScope采用同步Flash技术，快速刷新Flash断点，如同 RAM调试一样快捷；而且，多个Flash断点只执行一次编程操作，不会出现每次继续运行都重复编程Flash断点的现象，大大节省了用户调试的时间。
图4中，选中①，则可实现RAM中无限制断点调试；选中②，则可实现Flash中无限制断点调试；选中③，则Flash断点不会重复编写，加快Flash 断点调试速度。一般情况下，上述3项全部选中，可以保证用户方便快捷的调试。例如，用户选择在Flash中调试，程序中设置10个断点，那么进入调试状态之后，执行全速运行操作，则出现图4所示的进度条，提示编程Flash断点。