专栏中心

EEPW首页 > 专栏 > 飞拍测量|Novator系列影像仪大幅提升半导体模具测量效率

飞拍测量|Novator系列影像仪大幅提升半导体模具测量效率

发布人:中图仪器 时间:2023-08-21 来源:工程师 发布文章

目前BGA封装技术已广泛应用于半导体行业,相较于传统的TSOP封装,具有更小体积、更好的散热性能和电性能。

1.jpg

在BGA封装的植球工艺阶段,需要使用到特殊设计的模具,该模具的开窗口是基于所需的实际焊球大小和电路板焊盘尺寸考虑,模具的开窗口大小直接影响到锡球的尺寸,从而影响到最终的焊接效果:若孔径过小形成凹点,会使得芯片与连接它的其它部件之间的接触面积变小,导致信号传输不良、电气性能下降等问题;若孔径过大则会对焊盘产生压力,使锡浆不易流动形成缺陷。因此该模具在使用前需要经过高精度的检测,测量其开窗口大小是否合格,是否有脏污,每一个焊点的位置是否正确。


传统的测量方式针对此类含有小特征多尺寸且无序排列的样品,在创建模板时需要逐个识别提取,消耗测量人员时间精力,整板自动测量时,测量移动次数多,测量过程耗时长,效率低下。

中图仪器Novator系列全自动影像仪,针对此类大尺寸多特征的样品测量,有以下优势:

(1)单视场范围大,单视场内一次可完成约200个特征提取,无需多次移动;

(2)自动取圆工具,针对无序排列特征,无需测量人员手动逐个特征提取,只需一键框选便可实现自动提取,并可自动标注直径,输出坐标位置;

2.jpg

(3)飞拍测量模式,在平台快速移动过程中就完成特征提取,使测量流程更流畅,测量时间更短。测量外形尺寸320mm×160mm,含有25920个圆的模具,仅需耗时5分钟,针对此类特征密集排布型工件,飞拍测量充分发挥其优势,对比传统影像测量仪,测量时长由 1小时缩短至 5 分钟,测量效率提升 10 余倍,且测量精度无损失。

3.jpg4.jpg5.jpg

Novator系列全自动影像仪,可有效提升模具测量效率,减少人力资源消耗,为半导体行业降本增效。Novator系列全自动影像仪创新推出的飞拍测量、图像拼接、环光独立升降、图像匹配、无接触3D扫描成像等功能,多方面满足客户测量需求,解决各行业尺寸测量难题。


专栏文章内容及配图由作者撰写发布,仅供工程师学习之用,如有侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 联系我们

关键词: 影像仪 半导体 测量

相关推荐

2006全球半导体市场大会文字直播稿

美伊战争前途不明 中国半导体面临氦气短缺难题

PHILIPS 革新性的UART 解决方案

电容式触控IC解决方案及产品发展状况

视频 2009-12-21

Omdia将2026年半导体市场增长预测上调至62.7%

理解发展哲理 领悟发展走向——关于硅技术的思考

Omdia大幅上调预期:2026年半导体行业增速飙升至62.7%

2026-04-29

WB系列电量隔离传感器 变送器选型

以全域AI数字孪生加速半导体与电子系统研发

美国加码芯片设备对华出口管控,条款现适度软化

2026 全球半导体产业冲刺 1 万亿美元规模

日本 7.7 级地震后,铠侠、东京电子、光刻胶厂商受关注,半导体供应链影响不一

集装箱式微型晶圆厂问世,有望推动半导体产业普惠化

2026-05-12

便携式产品低功耗电路设计的综合考虑

Tektronix 助力二维材料器件与芯片研究与创新

大地震重创日本 台湾半导体产业受影响

视频 2011-03-21

二极管的小知识

资源下载 2007-02-16

新一代的晶圆代工服务与你共赢新兴的中国半导体市场

视频 2009-12-21

日本地震影响电子产业原材料供应

视频 2011-03-21

西门子与台积电深化合作 携手推进 AI 赋能芯片设计

更多 培训课堂
更多 焦点
更多 视频

技术专区