了解共模抑制比（CMRR）的变化如何影响模数转换器（ADC）的性能。在不同的应用中，如传感器测量系统和通信系统，我们观察到ADC输入端的共模信号不是恒定的。共模电压的变化可能是由于噪声分量引起的，该噪声分量同样耦合到ADC的两个输入端，或者源于正常的电路操作。在本文中，我们将看到共模电平的变化如何影响ADC的性能。为什么ADC的共模抑制很重要？图1显示了RTD测量的简化图。RTD测量的示例图。 图1. RTD测量的示例图。图片由德州仪器公司提供在上述示例中，激励电流源迫使固定电流流过RTD和参考
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CMRR，ADC，偏移误差
获得ADC的最佳SNR性能并不仅仅是给ADC输入提供低噪声信号的问题，提供一个低噪声基准电压是同等重要。虽然基准噪声在零标度没有影响，但是在全标度，基准上的任何噪声在输出代码中都将是可见的。对于某个给定的ADC，在零标度测量的动态范围(DR)之所以通常比在全标度或接近全标度测量的信噪比(SNR)高出几个dB，原因即在于此。在ADC的SNR有可能超过140dB的过采样应用中，提供一个低噪声基准电压是特别重要。如欲实现这种水平的SNR，即使是最好的低噪声基准也需要一些帮助以降低其噪声电平。能够降低基准噪声的替
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ADI ADC SNR
在采样速率和可用带宽方面，当今的射频模数转换器(RF ADC)已有长足的发展，其中还纳入了大量数字处理功能，电源方面的复杂性也有提高。那么，RF ADC为什么有如此多不同的电源轨和电源域？为了解电源域和电源的增长情况，我们需要追溯ADC的历史脉络。早期ADC采样速度很慢，大约在数十MHz内，而数字内容很少，几乎不存在。电路的数字部分主要涉及如何将数据传输到数字接收逻辑——专用集成电路 (ASIC) 或现场可编程门阵列 (FPGA)。用于制造这些电路的工艺节点几何尺寸较大，约在180 nm或更大。使用单电压
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ADI RF ADC
ADC 的 SPICE 模拟反复试验的方法将信号发送到 ADC 非常耗时，而且可能有效也可能无效。如果转换器捕获电压信息的关键时刻模拟输入引脚不稳定，则无法获得正确的输出数据。SPICE 模型允许您执行的步是验证所有模拟输入是否稳定，以便没有错误信号进入转换器。让我们仔细看看典型的串行伪差分 SAR-ADC，例如ADS8860（图 1）。图 1 ADS8860 是一款伪差分输入、1 MHz、16 位 SAR-ADC。该设备的 TINA-TI Spice 宏模型允许您模拟进入转换器的模拟信号的影响。借助此模
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模拟 ADC
6月24日，在一年一度的全球电子设计自动化盛会DAC 2024 上，国内领先的系统级验证EDA解决方案提供商芯华章携手国内EDA龙头企业华大九天，共同展示了双方在数模混合仿真领域的最新联合解决方案。此外，芯华章隆重推出EDA全流程敏捷验证管理器昭睿FusionFlex，面向来自世界各地的顶级EDA公司和芯片、系统厂商，展示中国生态联合力量和创新活力。这一工具创新性针对芯片设计验证流程中的多工具、多资源、多需求挑战提出了专业化管理方案，为整合当前国产EDA分散的点工具，构建完整的全流程国产EDA生态提供了强
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芯华章 DAC 敏捷验证管理器 FusionFlex 华大九天 数模混合仿真
本文介绍工业自动化领域的设计人员在设计用于电机控制的位置检测接口时面临的常见问题，即在速度更快、尺寸更小的应用中检测位置。利用从编码器捕获的信息以便精确测量电机位置对于自动化和机器设备的成功运行很重要，快速、高分辨率、双通道同步采样模数转换器(ADC)是此系统的重要组件。位置、速度和方向之类的电机旋转信息必须准确，以为各种新兴应用生产精准的驱动器和控制器，例如，将微型组件装配到空间有限的PCB区域中的装配机器。近来，电机控制开始走向微型化，使得医疗健康行业出现新的外科手术机器人应用，航空航天和防务领域出现
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电机控制 光学编码器 ADC
工业、仪器仪表、光通信和医疗保健行业有越来越多的应用开始使用多通道数据采集系统，导致印刷电路板 (PCB) 密度和热功耗方面的挑战进一步加大。这些应用对高通道密度的需求，推动了高通道数、低功耗、小尺寸集成数据采集解决方案的发展，还要求精密测量、可靠性、经济性和便携性。系统设计人员在性能、热稳定性和PCB密度之间进行取舍以维持较佳平衡，并且被迫不断寻找创新方式来解决这些挑战，同时要将总物料 (BOM) 成本降低较低。本文重点说明多路复用数据采集系统的设计考虑，并聚焦于通过集成多路复用输入ADC解决方案来应对
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ADI ADC 多路复用
本文的目的是介绍高速ADC相关的理论和知识，详细介绍了采样理论、数据手册指标、ADC选型准则和评估方法、时钟抖动和其它一些通用的系统级考虑。另外，一些用户希望通过交织、平均或抖动（dithering）技术进一步提升ADC的性能。1. 引言基本的ADC框图和术语如下图所示：随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等要求的不断提高，对于高速、高精度的 ADC（Analog to Digital Converter）、DAC（Digital to Analog Converter）的指标
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ADC 数模转换
前言用了这么久ADC,从没细看过ADC的内部原理和如何获得最佳精度，今天看到一篇ST的官方文档讲的不错，这里整理分享给大家。SAR ADC内部结构STM32微控制器中内置的ADC使用SAR（逐次逼近）原则，分多步执行转换。转换步骤数等 于ADC转换器中的位数。每个步骤均由ADC时钟驱动。每个ADC时钟从结果到输出产生一 位。ADC的内部设计基于切换电容技术。下面的图介绍了ADC的工作原理。下面的示例仅显示了逼近的前面几步，但是该过程会持续到LSB为止SAR切换电容ADC的基本原理（10位ADC示例）带数字
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ADC STM32
在所有器件特性中，噪声可能是一个特别具有挑战性、难以掌握的设计课题。这些挑战常常导致一些道听途说的设计规则，并且开发中要反复试错。本文将解决相位噪声问题，目标是通过量化分析来阐明如何围绕高速数模转换器中的相位噪声贡献进行设计。本文旨在获得一种"一次成功"的设计方法，即设计不多不少，刚好满足相位噪声要求。从一块白板开始，首先将DAC视作一个模块。噪声可能来自内部，因为任何实际元器件都会产生某种噪声；也可能来自外部噪声源。外部噪声源可通过DAC的任何外部的任何外部任意连接，包括电源、时钟和
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相位噪声 DAC 数模转换
Σ-Δ型ADC是当今信号采集和处理系统设计人员的工具箱中必不可少的基本器件。本文的目的是让读者对Σ-Δ型号ADC拓扑结构背后的根本原理有一个基本了解。本文探讨了与ADC子系统设计相关的噪声、带宽、建立时间和所有其他关键参数之间的权衡分析示例，以便为精密数据采集电路设计人员提供背景信息。它通常包括两个模块：Σ-Δ调制器和数字信号处理模块，后者通常是数字滤波器。Σ-Δ型ADC的简要框图和主要概念如图1所示。图1. Σ-Δ型ADC的关键概念Σ-Δ调制器是一种过采样架构，因此，我们从奈奎斯特采样理论和方案以及过采
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ADC 拓扑结构 调制器 数字信号
对于隔离式高性能ADC，一方面要注意隔离时钟，另一方面要注意隔离电源。SAR ADC传统上被用于较低采样速率和较低分辨率的应用。如今已有1 MSPS采样速率的快速、高精度、20位SAR ADC，例如 LTC2378-20 ，以及具有32位分辨率的过采样SAR ADC，例如 LTC2500-32 。将ADC用于高性能设计时，整个信号链都需要非常低的噪声。当信号链需要额外的隔离时，性能会受到影响。关于隔离，有三方面需要考虑：■ 确保热端有电的隔离电源■ 确保数据路径得到隔离的隔离数据■ ADC（采样时钟或转换
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隔离时钟 ADC EMI
为了节省成本，另一种方法是使用单个5V 电源设计架构。单个5V电源轨显著降低了模拟前端隔离电源设计的复杂性。但它会引入其他痛点，可能降低测量解决方案的精度。AD4111 进行了电压和电流测量所需的大量整合工作，并解决了5V 电源解决方案的局限性。图1. AD4111功能框图。集成前端AD4111是一款24位∑-Δ型ADC，通过实现创新而简单的信号链，缩短了开发时间，降低了设计成本。它利用ADI的专有iPassives™技术，将模拟前端和ADC融合在一起。这使得 AD4111 能够接受 ±10 V 电压输入
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ADI ADC
本应用笔记介绍了如何使用数模转换器来产生正弦波形输出。该文档还描述了规格、操作检查条件、硬件以及使用 RL78/G14 组 MCU 中的 DAC、数据传输控制器和事件链接控制器的软件和示例代码。本应用笔记介绍了如何使用数模转换器来产生正弦波形输出。该文档还描述了规格、操作检查条件、硬件以及使用 RL78/G14 组 MCU 中的 DAC、数据传输控制器和事件链接控制器的软件和示例代码。规格使用 D/A 转换器从 ANO0 引脚输出模拟电压。模拟电压输出从 0.0 V
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DAC
数据转换器就像一个小小的奇迹发生器，它将现实世界中的信号转换为数字表达，然后以高效且抗噪的方式传输、处理并存储。这些转换器花样繁多，而且应用范围广泛，从音频处理到科学仪器，再到图像扫描仪。本文将简要介绍模数转换器 (ADC)，并探讨如何利用 MDC91128 这样的高度集成解决方案来改进要求快速、高分辨率成像的 X 射线扫描应用。模数转换器 (ADC)模数转换器 (ADC) 可以将连续模拟输入信号转换为离散的数字信号，并以一序列 1 和 0 的形式进行传送。这些输入信号被量化为数字格式后，再进一步处理或传
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MPS ADC
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