- 设计复用使芯片设计的效率大为提高，为了跟上设计的步伐，测试也必须采用类似的复用技术。本文以飞利浦半导体的PNX8525 Nexperia数字视频平台(DVP)为例，介绍系统芯片的测试复用和调试策略。飞利浦半导体将设计复用策
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数字视频 可复用 测试 策略
- HDD中需精心设计的链路是位于前置放大器和读/写磁头组件之间的互连。该互连是确保HDD以多倍Gb/s的速率读写大量数据关键组件，但是，诸如交调失真、过冲和下冲等影响常会降低互连的性能，本文简要介绍如何利用时域反射
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测量 磁盘 测试 驱动器
- 互连中的信号完整性损耗对于数千兆赫兹高度复杂的SoC来说是非常关键的问题，因此经常在设计和测试中采用一些特殊的方法来解决这样的问题。本文介绍如何利用片上机制拓展JTAG标准使其包含互连的信号完整性测试，从而利
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边界扫描 测试 系统级芯片 互连
- 随着汽车工业的发展和进步，人们对汽车的动力性、经济性、安全性及排放等方面提出了更高的要求，传统的机械式控制系统已经远远不能满足这些需要。电子化控制系统以其高精度、高速度、控制灵活、稳定可靠等特点逐渐取
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燃料电池 汽车 车控制器 测试
- 以测试验证服务起家、时至今日并已成长至业界龙头地位的百佳泰(Allion Labs, Inc)，即将迈向崭新的里程碑。为提供客户更高质量与更具前瞻性的技术服务(Engineering Service)，百佳泰自跨入2012年起便积极转型，深化技术层次，其转型策略主要包括以下重点项目：
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泰克 测试
- 安立公司宣布MD8430A LTE基站仿真器和Signalion的SORBAS 移动终端模拟器已成功完成了 LTE Advanced载波聚合的互操作性测试 。在2012美国无线通信展CTIA上，安立公司展示了这个测试，表明安立公司拥有世界第一个实现“全栈”载波聚合的能力。
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Anritsu 安立 测试 载波聚合
- 通过整合安立公司的快速测试设计(RTD)的图形脚本软件和带有RADVISION的ProLab IMS/VoLTE测试套件的MD8430A LTE网络模拟器，安立公司(Anritsu)和Radvision在CTLA展上全面的展示了VoLTE设备测试能力。该套全新的VoLTE设备测试方案在安立公司展台上正式亮相。
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Anritsu 安立 测试 MD8430A
- 随着SoC设计向存储器比例大于逻辑部分比例的方向发展，高质量的存储器测试策略显得尤为重要。存储器内置自测试(BIST)技术以合理的面积开销来对单个嵌入式存储器进行彻底的测试，可提高DPM、产品质量及良品率，因而正
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测试 标准 嵌入式存储器
- 在最新的一项市场调查中，研究人员预计：到2015年，每年将有超过10亿台IEEE 802.11ac 无线通信设备投入使用。这是一个相当惊人的数字，特别是考虑到802.11ac尚未成为官方标准的前提下。所以你可能会问：“什么是802.11ac协议，它跟当前的Wi-Fi有何区别?”
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NI 测试 802.11ac
- 安捷伦科技公司(NYSE：A)日前宣布推出四款 X 系列信号发生器，可提供无与伦比的相位噪声、输出功率、ACPR、EVM 以及带宽。借助这些功能，新型 Agilent MXG 和 EXG 产品(提供模拟和矢量型号)支持元器件和接收机的开发，可以消除干扰、加快数据吞吐量并提高雷达、军事通信和消费类无线技术等应用中的信号质量
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安捷伦 测试 信号发生器 MXG
- 近日，于美国拉斯维加斯召开的世界最大规模网络产品商展Interop Las Vegas 2012，10项Best of Interop奖项已各有归属，NEC成为最大赢家，摘得管理监控和测试类以及Best of Interop全场特别奖两项桂冠。
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NEC 测试 UNIVERGE
- 大批量半导体芯片制造商必须解决以下这道难题，即如何经济高效地测试嵌入在大型数字系统级芯片设计中的多个多通道高速I/O接口(如PCI Express、HyperTransport和 Infiniband)。虽然结合了闭环操作的片上内置自测试(BI
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测试 向量 方法
- 当第一批电路板样板放在硬件工程师桌面的时候，在测试时他会感到非常困扰。工程师耗费几个星期的时间设计电路图和布板，现在电路板做出来了，上面也安装好了元器件并拿在手上，现在必须确定它能否工作。工程师插上板
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JTAG BGA 边界扫描 测试
- 目前全球ADSL用户数量在迅速增长，为了刺激ADSL的持续增长，市场需要低成本的ADSL集成电路，本文介绍如何利用先进的测试平台来对ADSL芯片的某些关键参数进行测试，从而使半导体制造商能够降低ADSL器件的测试成本。AD
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ADSL 集成电路 参数 测试
- 存储器件持续不断的降价压力要求降低测试成本。很多公司通过同时测试更多的器件来提高吞吐率。过去的几年里，测试探针卡的发展允许平行测试更多的器件——同时可测的待测器件（DUT）数量从32到64到128不断
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探针卡 测试 流程
测试介绍
中文名称：
测试
英文名称：
test
定义1：
对在受控条件下运动的装备，进行其功能和性能的检测。
应用学科：
航空科技(一级学科);航空器维修工程(二级学科)
定义2：
用任何一种可能采取的方法进行的直接实际实验。
应用学科：
通信科技(一级学科);运行、维护与管理(二级学科)
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