- 如今，伴随着新技术的不断涌现和各行业新需求的不断增加，更多差异化产品投放市场的步伐也在不断加快，这些产品不但集成了更多功能，而且还必须缩减开发周期，以便在与同类产品的竞争中获得优势。与此同时，各企业也
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软件 核心 测试 系统设计
- 在可用的测试和测量硬件和软件范围内进行选择，对初次用户和有经验的用户来说，都一样难办，这是可以理解的。技术的进步使测量和测试方法的发展呈指数方式加快，给用户提供难以想象的强大系统功能。测试和测量设备跨
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测试 测量系统 注意事项
- 在对纳米器件进行电流-电压（I-V）脉冲特征分析时通常需要测量非常小的电压或电流，因为其中需要分别加载很小的电流或电压去控制功耗或者减少焦耳热效应。这里，低电平测量技术不仅对于器件的I-V特征分析而且对于高电
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I-V 纳米器件 脉冲 测试
- 目前，市场上有许多可供选择的分析仪，有些具备非常特殊的专业用途，有些则提供了较多的通用射频测量能力；有些被称为频谱分析仪，有些则被称为信号分析仪。这些分析仪都是用来测量和显示信号频率与幅度之间的关系的
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发射器 测试 分析仪
- 一、示波器不可不知的问题 Q1: 在高速串行测试时，对测试所需示波器有什么样的要求?哪几个指标是最关键的 ...
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测试 测量 示波器
- 一、简易多波形信号发生器电路设计 信号发生器在电子实验中作为信号源，通常用得多的是正弦波、三角波、 ...
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测试 测量设计
- 1 引言移动互联网用户在过去的几年中高速增长，据统计目前全球范围内移动宽带用户数已经超过了有线宽带用户数（540M，480M），权威机构预测这个数字在未来的5年内将会达到1.7B。同时，移动互联网的业务流量也呈现了爆
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IxLoad WAP 网关系统 测试
- 前言作为DDR2的继任者，根据JEDEC标准, 目前DDR3的数据速率跨度从800Mbps开始直至1.6Gbps。在带给用户更快性能体验的同时, DDR3却能保持较低的功耗，相比DDR2减少约20%。虽然2008年整个DRAM市场低迷，DDR3的出货量远
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DDR3 测试 方法
- 现在由于需要支持10G以太网的测试，各个标准正在对仪器需要的精度进行讨论，基本只有达到IV精度的仪器才能支持10G以太网的测试。 但是，现在不论是TIA,ISO还是IEEE,都还没有对IV精度应该达到什么样的标准最后定
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布线系统 测试
- 复杂 IC 不仅吸引了更多系统，而且还吞食着设计者用于建立、评估与校准芯片的测试设备。要 点芯片设计者正开始在自己的复杂 IC上设计测试与测量仪器。在IC中设计测试仪器的潮流开始于CPU核心与总线的数字调试硬件。现
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SoC 发展 测试 测量设备
- 又到六一，大家的目光自然又投向了那些祖国的花朵身上。随着消费者对于汽车安全的日益重视，对儿童的保护已成为衡量一辆车安全与否的重要因素之一。欧洲的EURONCAP试验、美国的NHTSA(美国公路交通安全局)和IIHS(美国
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测试 保护 评级
- 随着微型化程度不断提高，元件和布线技术也取得巨大发展，例如BGA外壳封装的高集成度的微型IC，以及导体之间的绝缘间距缩小到0.5mm，这些仅是其中的两个例子。电子元件的布线设计方式，对以后制作流程中的测试能否很
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电路设计 测试
- 当今的电子器件和产品在以比以往更快的速度发展，在许多商业应用中，从设计到生产的生命周期缩短到仅有6个月。另外，设备内含和拓扑正从单一向多功能器件转化进而涉及整个子系统和系统，并常常作为单一方案(例如智能
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仪器 方法 测试 系统级
- 与过去机械系统的改进决定汽车工业的革新不同的是，下一代汽车90％的创新都来自更复杂的集成电路。半导体器件在满足客户对汽车功能方面的需求上扮演着非常重要的角色。根据FrostSullivan的数据，西欧的汽车半导体市
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多功能 IC的 测试 混合信号
- 摘要：讲述EMC的定义，EMC在单片机应用系统的测试方法，EMC新器件新材料的应用以及故障排除技术。只要从事电子产品的研发、生产或者供应，就必须进行EMC电磁兼容的检测工作。引言所谓EMC就是：设备或系统在其电磁环境
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EMC 单片机 测试 故障排除
测试介绍
中文名称：
测试
英文名称：
test
定义1：
对在受控条件下运动的装备，进行其功能和性能的检测。
应用学科：
航空科技(一级学科);航空器维修工程(二级学科)
定义2：
用任何一种可能采取的方法进行的直接实际实验。
应用学科：
通信科技(一级学科);运行、维护与管理(二级学科)
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