- 引言红外焦平面探测是一种兼具辐射敏感和信号处理功能的新一代红外探测技术，但是由于制造过程和工作环境的影响， 使得焦平面阵列(FPA ) 各个阵列元即使在相同的辐射通量照射下，也会输出不相同的响应电压。这种红外响应引起的遥感图像的失真被称作红外图像的非均匀性。为了提高观测频率、扫描范围和空间分辨率，航天遥感一般采用推扫式的多元敏感线阵列对地物成像，通过观察发现，推扫得到的遥感图像出现有规律的条带失真，条带宽度与遥感器多元敏感元个数的扫描线宽度一致，而且随着时间的推移，条带现象日趋严重，与单敏感元扫描图像中的
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测量 测试
- 通过扩大其支持Enhanced Data Rates for GSM Evolution (EDGE) 手机设计的RF产品，飞思卡尔半导体揭开了公司第一款RF CMOS 90 纳米收发器的神秘面纱。新RFX275-30是一个收发器子系统，具有业内领先的低发送和接收电流、高接收器灵敏度，并且结构非常紧凑。通过简化编程，新子系统能够加快电话制造商的集成速度。此外，通过极大地减少制造过程中的测试时间和集成过程
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EDGE 半导体 飞思卡尔
- 据台湾《经济日报》２５日报道台塑集团旗下两家ＤＲＡＭ（晶圆，即芯片）厂南科、华亚科去年获利均创新高，税后纯益加起来超过３００亿元（新台币，下同），首度超越力晶，成为台湾ＤＲＡＭ界最会赚钱的集团。 南科与华亚科去年每股纯益各为４．５５元及５．４３元，每股获利能力居本土同业前两强，两家公司本业获利各约为１４６亿元及１６４亿元，总计３１０亿元。 南科与华亚科今年加码投资
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半导体 电子 芯片
- 特许半导体(CSM)正在大幅度扩充第七晶圆厂(Fab7)的产能，以应付客户订单(市场需求)，而且最终的投资额将达到42亿美元至45亿美元(65亿新元至69亿新元),比原先计划的多15亿美元。它也考虑是否在新加坡建设多一座先进的采用45纳米(nm)技术的晶圆厂，估计有关投资可高达45亿美元。 采用45纳米技术 特许半导体总裁谢松辉昨日在发布业绩时，对媒体透露以上企业
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半导体 电子 集成电路 其他IC 制程
- 1月底，台湾茂德董事长陈民良将会来到重庆，参加“811”工程的签字仪式。 “811”工程是外商在重庆投资最大的项目。这个项目以前叫重庆大学城西永微电子科技园（以下简称西永微电园），随着台湾当局对半导体投资禁令的解冻，这个项目以后将正大光明地改名为“茂德工程”。 重庆抢来的生意 记者了解到，“8
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半导体 电子 集成电路
- 业界首款PCI Express DMM问世 美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）宣布推出新的基于PCI和PCI Express总线的高性价比6½位数字万用表（DMM）PCIe-4065，扩展了其DMM产品线。NI PCIe-4065 DMM是业界首款基于PCI Express总线的DMM；PCI-4065 DMM可以测量DC或AC电压/电流、2-线和4-线电阻，也
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6½ 位数字万用表 Express总线 NI PCI 测量 测试 测试测量
- 帮助LabVIEW用户开发第三方的新一代机器人系统 美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）正式宣布推出专用于LEGO® MINDSTORMS® NXT玩具机器人的LabVIEW工具包。通过这个最新的工具包，LabVIEW用户可以创建并下载VI，来操作和控制MINDSTORMS NXT机器人平台，第三方软硬件开发者也可以使用这一工具为MINDSTORMS NXT软件创建本地模块。LEGO MIND
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- 为系统工程师构建LabVIEW逻辑和HMI提供了全新工具 美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）最新发布NI TPC-2012 12英寸触摸屏计算机，可与LabVIEW 8.20触摸屏模块（LabVIEW 8.20 Touch Panel Module）协同工作，将LabVIEW 图形化开发环境发布到Windows CE HMI设备，更好地帮助控制设计工程师进行
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- 验证技术的发展在目前的集成电路设计中，芯片的规模和复杂程度正呈指数增加，为保证所设计芯片功能的正确性，需要花费比以往更多的时间和人力，困难度大幅增加。而且，目前的功能验证能力已经远远落后于设计能力，功能验证正成为大规模芯片设计的瓶颈。设计人员通常需要花费50%~70%的时间去验证他们的设计。虽然有形式验证等多种验证方法可供选择，但是设计者还是偏好基于仿真的验证，本文中的验证主要是指仿真。为了降低验证的工作量和提高验证的效率，越来越多的设计人员采用高级验证语言(HLV)来进行芯片验证。
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- 全球进入65纳米时代 2006年随着65纳米工艺的成熟，英特尔公司65纳米生产线步入大批量生产阶段。除英特尔外，美国德州仪器、韩国三星、日本东芝等世界上重要的半导体厂商的65纳米生产线也纷纷投产。 在65纳米工艺上，IBM等公司开发出了快速CMOS技术。他们采用了SiGe的应变硅技术和SiN薄层，使所开发的nMOS晶体管的驱动电流为1.259mA/μm，pMOS晶体管的驱动电流为0.735mA/μm。该快速MOS晶体管的漏电流在断开状态下仅为200pA/μm。除应变硅技术外，还采用了先进的10层布
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07展望 半导体
- 德州奥斯汀和纽约阿芒克－2007年1月23日讯－飞思卡尔半导体公司和IBM宣布，飞思卡尔将加入IBM技术联盟，联合进行半导体的研究与开发。 此协议包括互补性氧化金属半导体（CMOS）技术和绝缘硅（SOI）技术以及45纳米一代产品的高级半导体研究和设计支持转换。飞思卡尔是第一个与IBM技术联盟共同参与低功耗和高性能技术研究和开发的技术开发合作伙伴。 本协议将飞思卡尔在主要嵌入式市场（包括汽车、联网、无线、工业和消费电子）的领先技术水平与IBM开发世界一流技术和业界领先系统技术的成功经验结合起来。 此次合作将
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IBM 半导体 飞思卡尔
- Agilent发布4.5版本的Agilent J-BERT N4903A高性能串行BERT软件，使测试工程师能够以最快速度获得抖动容限测试结果。 在计算机、存储和通信等行业中，新一代多千兆位设备正方兴未艾。设计和验证人员需要新的测试工具，以便高效、精确地对这些高速接口进行表征和一致性测试。 屡获殊荣的Agilent J-BERT可显著改善这些千兆位接收机的抖动容限测试。J-BERT是业界唯一一款全面的抖动容限测试解决方案，使用经过校准的内置抖动源。自动抖动容限测试
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J-BERT软件 安捷伦 测量 测试 抖动容限
- 前 言
进入21 世纪以来，科学技术的发展已难以用日新月异来描述。新工艺、新材料、新的制造技术催生了新的一代电子元器件，同时也促使电子测量技术和电子测量仪器产生了新概念和新发展趋势。本文拟从现代电子测量仪器发展的三个明显特点入手，进而介绍下一代自动测试系统的概念和基本技术，引入合成仪器的概念，以供读者参考。
现代电子测量仪器的发展趋势
仪器性能更加优异
仪器的性能更加优异，测量功能更加强大，仪器的测量精度，测试灵敏度，测量的动态范围等都达到了前所未有的高度。例如，Agilent 公司的PSA 频
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测量 测试 新概念 新趋势 自动测试
- 早在20世纪80年代，贝尔实验室就首次提出了业务冲突问题。根据ITU-T对业务冲突的描述，业务冲突是指一个业务逻辑实例对另一业务逻辑实例或对同一业务逻辑的不同业务逻辑实例的不利影响。 实际电信网中的业务冲突可以理解为电信业务在实现时的相互干扰。
1、CPN Tools概述
Petri网是一种既具有图形表达能力又具有严格数学定义的模拟工具，CPN（Colored Petri Nets）则是对它的一种扩展。CPN适用于对具有并发性和分布式特点的电信系统进行图形化建模，并描述系统的动态特征。
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半导体测试系统介绍
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