DS2433设计转变为DS24B33 4Kb 1-Wire EEPROM
注20: | 当TA升高时,有效的写次数会降低。 |
注21: | 未进行100%生产测试;由可靠性抽样监测保证。 |
影响:+25°C时,DS24B33至少是DS2433的4倍。未给出DS2433在+85°C时的使用寿命。
说明:该参数规定存储器没有重新写入数据(刷新)时,能够保持数据完整性的时间。通常情况下,数据保持时间远远大于所给定的最小值。
摘自DS2433数据资料
SYMBOL | CONDITIONS | MIN | TYP | MAX | UNITS | NOTES |
没有规定。
摘自DS24B33数据资料
SYMBOL | CONDITIONS | MIN | TYP | MAX | UNITS | NOTES |
At +85°C |
注22: | TA升高时,数据保持时间下降。 |
注23: | 短时间内,100%高温生产测试保证;该生产测试等效于数据资料中的工作温度范围,这些数据是在可靠性测试中确定的。 |
注24: | 超出数据保持时间后,或许不能正常写入EEPROM。不建议长时间储存在高温下,+125°C下储存10年或+85°C下储存40年后,器件可能丧失写能力。 |
影响:DS24B33满足当前工业标准。
- ROM功能“Resume”
说明:与许多新推出的1-Wire从器件一样,DS24B33支持网络功能命令Resume。一旦通过Match ROM、Search ROM或Overdrive Match ROM成功选中DS24B33,Resume命令即允许再次读/写相同器件,无需指定64位注册码。
影响:对于存在多个从器件的网络,Resume能够减轻多次读/写同一器件的通信开销,例如,随机读取存储器或更新存储器数据。DS24B33支持该命令,DS2433则不支持该命令,所以应用中可据此在电气特性上区分这两个部件。 - 1-Wire前端
说明:前端是芯片内部支持访问器件资源(例如存储器)通信协议的电路。前端决定了在嘈杂环境下通信波形的定时容差和1-Wire从器件的性能。
影响:类似于多种新型1-Wire从器件,DS24B33前
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