高频锁相环的可测性设计
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提出了测试方案，并给出了相应的测试电路。并对采用该方案进行测试的高速锁相环在增加测试电路前后电路的仿真结果进行了比较。结果表明，本文所提出的高频锁相环测试方案对锁相环本身的功能影响很小。参考文献
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