尼得科精密检测科技参展PCIM Expo & Conference 2025

尼得科精密检测科技株式会社（以下简称“本公司”）将参展2025年5月6日（星期二）～５月８日（星期四）在德国纽伦堡市举办的“PCIM Expo & Conference 2025”。

AC/DC Capacitance tester

Probe Card

NATS-1000

在本次展会上，电力电子行业将汇聚一堂，旨在跨越国界共同探索最新的研发趋势，整个行业共同分享创意，提供解决方案。

本公司在本次展会上将展示从芯片（Chip）级到系统级面向功率器件的先端检测系统。此外，还将现场实际演示有助于缩短研发周期的HILS（Hardware-In-the-Loop Simulation）平台。

今后，本公司将继续以行业先端的测量和检测技术为全球制造业做出贡献。

〈参展概要〉

・展期：2025年5月6日(星期二)～5月8日(星期四)

・展馆：德国纽伦堡市 NürnbergMesse展览中心

・展位：4-432

 〈参展内容〉

・用于IGBT/SiC功率模块的绝缘/静态特性/动态特性检测装置“NATS-1000/1700系列”

・SiC模块可靠性测试装置“NATS-8000系列”

・电机测试台用逆变器&POWER HIL电机模拟器 “R-1100”

・运用AI技术的xEV建模模拟器 “E-Transport Simulator®”

・AC/DC电容测量用多功能测试仪“R-700系列”

・半导体器件稳定测量探针“TC-Probe”

・适用于高电压的加压结构探针卡 “Chamber head Probe Card”

・适用于高温/高电流的探针 “3H+ Probe”