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快连接式电磁继电器结构可靠性的研究与改进

作者:熊克勇 时间:2017-05-26 来源:电子产品世界 收藏
编者按:本文结合家电产品应用的快连接式电磁继电器,采用解剖、模拟、对比等分析方法,对释放电压偏低的电磁继电器进行失效原因分析。结果表明,快连接插片受到外力冲击变形,使快连接插片与基座铆接点固定柱受到破坏,继电器静簧片向动簧片反方向移动,GAP(触点间隙)变大,FOLLOW(超行程)变小,导致释放电压低。通过对快连接式继电器的研究,提出两种改善方案:1)在快连接式插片根部增加挡块;2)在快连接片的静簧片上增加挡钉,可提高快连接式继电器的结构强度,提高其使用可靠性。

  选取的继电器初始为1.5V,经模拟实验后,降低至1.12V,不合格。下降0.38V,降低了25.33%。

本文引用地址:https://www.eepw.com.cn/article/201705/359751.htm

  结论:通过受力模拟,掰动继电器快连接插片后,初始释放电压较低的继电器可复现售后故障现象——释放电压低。观察模拟的故障件,其快连接插片与基座铆接点结合处受到破坏,继电器静簧片向动簧片反方向移动,GAP变大,FOLLOW变小,释放电压低。

2.2 不同厂家测试对比

  根据以上模拟实验的方法,对比不同厂家继电器在插片受力后,继电器释放电压下降变化情况。可以发现,除售后失效厂家释放电压下降明显,达25.33%外,B厂家继电器释放电压同样下降明显。

  测试对比结果如表3所示。

  结论:通过对比可以看出,插片受力变形导致参数变化,并非单一厂家存在此类情况,具有一定的普遍性,研究快连接式结构的及改善方案,具有重要的意义。

3 快连接式结构研究及改善

  售后出现的快连接式继电器插片变形导致继电器释放电压变小,经分析,主要原因为继电器快连接插片受到冲击变形,导致快连接插片与基座铆接点结合强度受到破坏,从而使继电器静簧片向动簧片反方向移动,GAP变大,FOLLOW变小,最终导致释放电压低。

  通过对比研究,可以认为改善快连接式继电器的,需在插片与静簧片间增加固定装置,以减少插片变形对电磁继电器释放参数的影响。以下提出两种改善方案,经验证可降低快连接插片受力对电磁继电器参数的影响。

3.1 快连接式插片根部增加挡块

  电磁继电器快连接插片与静簧片结构上同为一体,提高继电器的可靠性,可通过在插片的根部增加挡块,以固定插片且减少插片变形对其他部位造成影响。

  改善效果验证:针对整改后的制品模拟受导致插片变形的情况,测试各项参数变化较小,相比整改前的制品改善明显。

3.2 快连接片的静簧片上增加挡钉

  提高电磁继电器可靠性的另一方案是固定静簧片,即在其头部增加挡钉,使组立后与基座间紧密接触,可确保快连接插片在作用下,其内部静簧片不易发生位移变化而导致释放电压下降。改善示意图如图4所示。

  改善效果验证:测试改善后样品参数情况,同样改善明显。

3.3 其他方案

  在研究快连接式电磁继电器并试图提高其可靠性时,我们还发现可以从其他方面提高其可靠性,如下:

  (1)增大支架上用于固定快连接插片的铆柱的直径,以提高快连接插片抗外力破坏的能力;

  (2)快连接插片与静簧片连接区域增加过渡台阶,减少插片受力时对静簧片的影响。

4 结论

  快连接式电磁继电器作为常用的控制器件,其使用除常见的内部异物、线圈开路等失效[3]外,通过此次研究分析,发现插片受力也会造成可靠性减低,引起继电器早期失效。其失效原理是快连接插片受到外力冲击变形,使快连接插片与基座铆接点固定柱受到破坏,继电器静簧片向动簧片反方向移动,GAP变大,FOLLOW变小,导致释放电压低。基于对快连接式继电器的研究,为避免外部应力导致继电器参数变化,通过在快连接式插片根部增加挡块或在快连接片的静簧片上增加挡钉,可改善快连接式继电器的结构强度,提高其使用可靠性。

  参考文献:

  [1]白琼燕,李生仁.电磁继电器的工作原理及其功能[J].科教文汇,2013(18):138-138..

  [2]黄娇英,胡振益,高成,等.军用电磁继电器失效分析[J].现代电子技术,2013,36(10):131-135.

  [3]王香芬,高成,付桂翠.电磁继电器电测失效分析技术研究[J].低压电器,2011(2):6-9.

  本文来源于《电子产品世界》2017年第6期第40页,欢迎您写论文时引用,并注明出处。


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