基于HARQ的TD-LTE基站性能测试方案
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在配置1时，上行只在子帧2、3、7和8四个位置发送上行信号;下行由基站在子帧1、4、6和9发送ACK/NACK指令，指令的指示对象及重传位置关系如图1所示。
本文引用地址：https://www.eepw.com.cn/article/145029.htm
测试平台
硬件平台
性能测试目的在于模拟实际环境下的系统吞吐率，因此需要基站与测试仪器进行联调。硬件测试平台包括：支持2天线接收的TD-LTE eNB基站、安捷伦基带信号发生器与信道仿真仪PXB、安捷伦矢量信号发生器MXG(主要用于上变频)以及一台四通道示波器(用于系统调试)。测试系统结构如下：PXB实时产生TD-LTE上行信号并经过特定信道模型下的衰落后，输出的基带I/Q信号经过MXG上变频分别送入基站的两根接收天线。基站端对接收到的射频信号进行解调解码，并以RS232C的串行通信方式将反馈结果(ACK/NACK指令)传回至PXB，PXB根据ACK/NACK指令实时调整RV因子重新发送数据包或选择放弃当前数据包(当eNB发送ACK信号或是已达到最大重传次数)。最后基站端统计得到系统的吞吐率。
如果测试环境确实希望使用外置信道仿真器，则只需使用安捷伦N5182B/N5172B射频信号发生器即可完成上述系统的测试。典型的测量系统如图3所示。
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