飞思卡尔半导体使用Tektronix IConnect软件为发射机建模

　　在DSA8200 TDR平台上运行时，IConnect软件是一种效率高、使用方便且性价比高的解决方案，可在测量的基础上对gigabit内连链接和装置进行性能演变，包括信号整合分析、阻抗、S参数以及可见图形测试和故障隔离。

　　处理过程

　　图1显示了测量用的测试设置。这里，灰色区域内的每个元件都是发射机的一部分，在带有TDR测量探头的DSA8200中用泰克IConnect软件进行测试时，可作为装置设备。

　　采用该设置，TDR和发射机产生振幅为100mV pk-pk的1010....(时钟格式)作为到80E08采样头的输入，并平均DSA8200中取得的300个采集点，从而过滤发射机的切换噪音。通过以上捕捉到的输入，以Zo为参引，计算出Z线为50欧。在阻抗轮廓线上显示最左边为50欧，最右边为42.5欧，即发射机的输出阻抗，如图3中IConnect捕捉到的所示。从TRD测量探头一侧看，为发射机的输入阻抗。DUT上看到另一侧-从发射侧看为输出阻抗。

　　要看到输出阻抗，Z线须翻转，作为模拟时的输入，但模拟时不接受Z线作为输入。实际DUT的翻转Z线十分理想，可作日后参考。对于输入，我们将DUT的电压波形翻转，并称之为翻转DUT。这时，根据相同的简短参引和Zo参引，我们计算出翻转DUT电压波形的Z线，得出发射机的输入阻抗为42.5欧，而不是50欧。这与图3中所示的实际DUT的翻转Z线一致。

　　模拟时，采用了单线模型的布局，因为这是与反射参引和简短/开放式参引工作的唯一模块。我们再次使用了计算得出的Z线，其具有相同的翻转DUT、相同的简短参引和同样为42.5欧的Zo。

　　“有了IConnect软件，我们能以不同的方式实现我们的方法，这真是太奇妙了。现在，设计组能清楚地了解包的间断性和其系统的Tx/Rx实际终端，以及发射的另一侧。模拟发射机时，使用Iconnect使我们不再采用传统的基于VNA的方法，而是采用更真实的方法。”

　　飞思卡尔半导体公司(印度设计中心)信号完整性分析工程师Naresh Dhamija说。

　　如图4所示，采用了精确分割。接着，在该模型上进行模拟。如图5所示，按下模拟按钮，将终端改为50欧，从而使模拟的TDR电压波形与翻转的TDR电压波形准确匹配。

　　眼图选择可设置101010种型式，电压等级从-50mV至50mV，上升时间可达70 ps。采用Iconnect得出的模拟眼图(图6)与图2的测量眼图类似。

　　飞思卡尔半导体公司的信号完整性分析工程师Rajeev Sharma说：“采用TDR测量技术时，我们试图采用了TDT测量技术。只是，我们没有在该模型中假设R=G=0。提取无损的包的模型和只有一个接口的Tx/Rx实际终端，这是十分有用的。采用这一方法，我们可以预测眼图形状失真，这是由于发射线的不连续性造成的，包括电路板迹线，连接器，插座等因素。”

　　泰克科技：在数字时代的创新

　　泰克IConnect软件在行业内独具一格，在不断更新的数字时代，这是创新的又一实例。

　　飞思卡尔半导体公司模拟发射机最重要的一点是，从发射侧看，得出了一个真实的阻抗轮廓线。IConnect可尝试无限的范围，这使它具有惊人的灵活性。

　　飞思卡尔半导体公司高级设计工程师Naresh Dhamija称：“IConnect帮助我们获得了从驱动器到电路板迹线的阻抗轮廓线，并接收到重要信息，例如，对包和芯片寄生行为的模拟等。事实上，当产生的发射达到效率水平时，的确不需要说示波器上所见波形与IConnect模拟的眼图上相同。”

　　“采用TDR测量技术时，我们试图采用了TDT测量。只是，我们没有在该模型中假设R=G=0。提取无损的包的模型和只有一个接口的Tx/Rx实际终端，这是十分有用的。采用这一方法，我们可以预测眼图的形状失真，这是由于发射线的不连续性造成的，包括电路板迹线，连接器，插座等因素。”

　　Rajeev Sharma  飞思卡尔半导体公司(印度设计中心)信号完整性分析工程师说。