用于CMOS图像传感器的流水线ADC设计及其成像验证
CMOS图像传感器(CMOS image sensor，CIS)在近二十年来取得了飞速的发展，得益于有源像素传感器(Active PixelSensor)的出现、相关双采样技术(Correlated Double Sampling)的发明以及工艺的进步等，用于低噪声应用领域的CMOS图像传感器也取得了长足的发展。由于CMOS传感器具有先天的低成本、易于集成等优点，CMOS传感器在低噪声应用领域也已引起了越来越多的关注。目前，在低噪声CMOS图像传感器的研究领域，除研究其噪声外，数字化也是它的一个重要的研究方向。
文中介绍了一种适用于低噪声CMOS图像传感器芯片级模数转换的流水线型ADC，根据低噪声CMOS图像传感器的系统要求，文中设计的ADC的分辨率为12 bit，速度为10 Msps，采用了每级1．5 bit、共11级的流水线型结构。在该ADC完成设计仿真后，基于0．5μm标准CMOS工艺进行了流片。最后在PCB板级电路上用该ADC对一个自主设计的模拟输出的CMOS图像传感器进行了模数转换，并基于自主设计的成像测试系统完成了CMOS图像传感器的成像。
1 ADC设计指标及框架
根据自主设计的低噪声CMOS图像传感器的系统要求，可以确定流水线ADC的设计指标。表1给出了该设计的具体设计指标。
由于该ADC设计目标为应用在自主设计的低噪声CMOS图像传感器的芯片级，因此其速度和精度都应尽可能的高，以达到芯片系统低噪声和速度的要求。而由于其工作在芯片级，其功耗和面积的要求则可以相对宽松一些。因此本设计采用了11级，1．5 bit每级的结构，虽然这种结构在功耗上会有所增加，但是可以降低比较器的比较精度带来的影响，同时也降低了对第一级采样保持电路运放的要求。本文设计的ADC的结构框图如图1所示，在该ADC11级结构中的前10级电路中，每级电路包括子模数转换器(ADC)、子数模转换器(DAC)、求和电路、余量放大器以及采样保持电路，其中由于子DAC、采样保持电路、求和电路以及余量放大电路一般都由一个开关电容电路实现，因此该电路模块常被统称为乘法型数模转换器(Multiplying digital to analog converter，MDAC)，第11级电路为一个2 bit的flash ADC。在两组互不相交时钟CLK1和CLK2的控制下，每级电路都产生了数字输出，这些输出在经过数字位对齐和数字校准后得到最终的数字输出。
2 ADC各模块设计
2．1 MDAC设计
MDAC电路是流水线ADC设计中非常重要的部分，它在ADC中实现的功能包括采样保持、数模转换、减法和余量放大等，一般采用开关电容技术实现，由模拟开关、电容和跨导运算放大器(OTA)构成，其电路图如图2所示。其工作原理是：用MDAC的采样保持对前级余量电压进行采样；将其采样电压与本级子DAC的输出电压进行减法运算；将减法运算得到的余量电压通过余量放大器进行放大。
在流水线ADC结构中，第一级的MDAC的要求最高，随着级数的增加，要求不断降低。对于一个12位、10 Msps采样率流水线ADC，以第一级MDAC为例，该电路需满足的总体指标为：精度12 bit，采样率10 Msps。而在MDAC设计中，最关键的是余量放大器设计，本文以第一级余量放大器的设计为例来说明整个设计，其中采用的余量放大器的结构如图3所示。余量放大器工作在闭环状态，要求其有限直流增益造成的误差小于1／2LSB，即有：
式中A0为开环增益，N为ADC分辨率，β为反馈系数。
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