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提高EMC试验效率的方法

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作者:东软飞利浦医疗设备系统有限责任公司 高压产品事业部 黄艳敏 菜春良时间:2007-01-02来源:电子产品世界

摘要: 在试验中,根据试验项目及试品自身的特点,有两种关于节省试验时间、提高试验效率的方法:去除冗余的方法和多线测量的方法。

关键词: 

概述

由于目前所使用的电子元件和设备对电磁干扰非常敏感,尤其对“高频”和“瞬态”现象。所以在电子元件和设备的大量使用中,出现了由电和电磁干扰所引起的设备误动作、设备拒动、设备损坏等现象。为了避免和减轻上述问题,提出了对电子元件和带有电子元件的设备要进行电磁兼容()试验,主要进行(冲击)抗扰度试验,试验和抗扰度试验。在(冲击)抗扰度试验和试验中,随着电源线和控制线数量的增多,试验的时间和繁琐度也随着增加。

在多次对受试设备进行试验的过程中,笔者总结出了以下两种可提高试验效率的方法。

去除冗余的方法

根据国标GB/T17625.5-1999,如果受试设备的控制线、信号线中存在功能相同的线,即实现的电路线路相同,则可以选择其中一定数量的线路进行典型测量。例如,在对某电子有限公司生产的CHK-II型重合器控制器进行试验时,它有三根电流线分别标为Ia、Ib、Ic。根据CHK-II型重合器控制器的原理图,Ia、Ib、Ic这三根线的实现线路是相同的,则在浪涌试验中,Ia与其他控制线、信号线的共模和差模试验性质同Ib、Ic与其他控制线、信号线的共模和差模试验,所以我们可对其中的任意两根进行测量(也可对其中的一根测量)。

多线测量的方法

在浪涌试验中,分为共模和差模两种方式。

在共模方式中:如果有N根控制和信号线,则测量次数为N


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