如何快速准确的仿真多天线环境
本文在介绍CATR联合CMCC进行的TD-LTE实验室测试的基础上，着重介绍复杂信道模型的模拟。思博伦新一代信道模拟器VR5-HD充分考虑了目前和未来的需求，支持所有TD-LTE，及LTE-A的测试，真实的模拟无线信道环境，使用方便，连接简单，重点介绍其对本次测试的支持情况。
本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/155890.htmTD-LTE多天线测试
1.1 MIMO and beamforming
MIMO，即多输入多输出，因为可以成倍的提高系统容量，成为LTE的指定技术之一。另一方面，TD-LTE具有天然的上下行信道对称性，可以利用多天线来实现beamforming，从而提高增益，降低干扰。事实上，在TDD的3G阶段，TD-SCDMA即充分利用上下行信道的对称性实现beamforming。TD-LTE创新的提出了双流beamforming，即MIMO+beamforming技术，同时实现提高容量和降低干扰提高增益，是TD-LTE的最显著的特点。
上下行信道对称性又叫信道互易性，在测试beamforming时，必须满足天线的互易性。
天线
TD-LTE基站有两种天线配置，一种是两天线，即2*2MIMO，该配置只使用MIMO技术，不使用beamforming技术，主要应用在室内及微蜂窝场景;另一种是8 天线，即8*2MIMO，该配置将8天线分为两组，每组包括4天线，组内使用beamforming，组间使用MIMO发送双流。这就是双流 beamforming。8天线配置是将来的主要方向，也是我们测试的主要内容。
8天线带来一个挑战，因为天线各天线平行放置，且有一定的间隔，使得天线的尺寸较大，不易于工程使用。所以从3G开始，都使用+-45°的双极化天线，尺寸约缩小了一半，大大增强了实际可用性。同时，双极化天线因为两组天线的相关性天然降低，有利于提高MIMO容量。
图1 TD-LTE应用的双极化8天线
CMCC还要求使用方向性天线，进一步提高天线覆盖的效率。
在模拟无线信道环境时，必须模拟天线的极化及方向性，否则造成信道模型及输出功率不正确。
因为可控性、可重复性、可对比等特征，实验室评估测试越来越受到重视，有着实际外场测试不可替代的优点，成为在外场验证之前必不可少的关键一步。那么在实验室模拟真实的无线环境就成为一个课题，即如何在实验室真实、快速的仿真无线信道环境，从而在实验室构造完整的测试环境，验证网络设备或终端。
TD-LTE要求8通道的互易信道，对系统集成度提出了更高要求;多天线技术特有的信道模型均要求更优的信道模拟器的可靠性和真实性;同时由于测试复杂，周期长，希望使用方便，实时处理，实时仿真。
思博伦作为90年代即推出信道模拟器的工业标准，不仅提供经济的方案，最新一代高集成度信道模拟器提供了最领先且易用的方案。可实时模拟所有要求的信道模型，内置功率计，方便的GUI，简单的连接，从而快速准确的进行测试。TD-LTE研发技术试验的要求
研发技术试验包括两类测试。一类是上行解调测试，主要是验证基站在指定的信道环境下接收机的解调性能，要求得到在不同吞吐量下的信噪比，对接收机性能做出评估和比对。
图2 上行解调测试结构图-SR5500M
另一类是双向测试，主要验证MIMO，MIMO加beamforming的在不同信道环境下双向测试，要求画出吞吐量与信噪比的曲线，对整体性能做出评估和比对。
图3 双向8*2测试结构图-VR5-HD
从以上测试要求可以看到，信道衰落环境仿真起着至关重要的作用，要求信道模型真实，噪声电平、输出功率等精确易控，设备可靠，同时因为环境复杂，要求信道模拟器连接尽量简单，操作方便，测试效率高等。
2.1 硬件基本要求
在上行解调的测试中，要求单向8通道的测试能力，无需外部设备或衰减器。
在双向测试中，要求双向8通道的测试能力，无需外部设备或衰减器，相位校准方便、精度高、校准周期尽量长等。
输入输出应具备实时功率计，并支持实时的脉冲模式测量以满足TD-LTE的要求，实时观察各端口功率。
仪表具有良好的可靠性，各端口具备过载功率保护措施，不易损坏。
仪表的维修和校准应该在本地，在出现异常情况能快速处理并恢复。
功能要求
支持所有信道模型：支持基于几何地理的SCME模型和IMT-A M.2135规定的信道模型。
信道模型必须是基于几何地理方法的，不能用基于相关矩阵的信道模型来近似。
支持天线极化和天线方向性的设置。
仪表的功率精确，保证输出的信噪比精确，对测试结果的评估至关重要。
仪表具备较高的动态范围，测试要求的信噪比及噪声功率需要覆盖非常宽的范围，要求仪表的动态范围尽可能大，这样保证可以满足最低和最高的功率要求，找到设备的临界点。
思博伦先进信道模拟解决方案
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