嵌入式测试方案及高速测试技术

前  言  

目前，在许多应用领域，例如处理器、移动电话、调制解调器等产品，SOC技术已经成为主要的研究方向。这类SOC芯片整合了数字逻辑电路、模拟电路、内存模块以及知识产权(IP)核，甚至将微处理器、外围接口、通信模块皆能包括于一芯片中。SOC芯片的应用，对于提升系统性能、减少系统能耗、降低系统的电磁干扰、提高系统的集成度都有很大的帮助，顺应了产品轻薄短小的趋势。  

安捷伦公司推出的93000 SOC测试系统，完全满足业界需求，对于高速数字电路、嵌入式内存、混合信号测试都提出了有效的解决方案。  

嵌入式内存测试  

嵌入式内存是SOC芯片不可或缺的组成部分，因此其测试以及分析的方法也就相当重要。93000 SOC测试系统在内存的测试上，无须额外的硬件，可直接将高速数字测试通道，作为内存测试之用，以达到全速测试的目的，同时在运行中切换逻辑与内存测试，能有效提高产率，并进一步作冗余分析和修补。  

内存测试与除错  

首先，在93000提供的APG(算法图码发生器)软件中，我们可以描述出待测的内存大小，包含X和Y方向的地址数、I/O位数及其与实体地址的关系，即所谓的不规则图码。因为93000 SOC系统的独立通道架构，在资源安排上，可任意使用1024 个测试通道，几乎没有I/O数的限制，也因此在DUT 板设计与引脚安排上更具有弹性。 当待测对象有多个内存块，或者是对嵌入式内存，只有部份引脚用于内存测试时，利用APG中可定义多个测试端口的功能，可以指定不同的引脚至不同的测试端口。但是仍须定义存取的运作，比如读和写，以及这些运作中是否需要多任务或流水线处理。  

接着便需选择测试图码，其目的在于利用一连串的读写动作重复测试内存的每一个单元，不同的图码可检测到不同的制程错误，例如固定错误、耦合错误等。93000已将校验板、步进6N等标准的内存测试图码作成图库，使用者可直接选取，或者，根据待测物的特定需求，使用ASCII格式自行编辑图码。  

内存测试的图码需占用大量的向量内存，以12