据中国台湾媒体报道，有业内消息称，英特尔今年将推出单独的USB 3.0控制器，此举将加快USB 2.0的被淘汰步伐。
最近，威盛和祥硕科技 (Asmedia Technology)刚刚加入到USB 3.0行列，而英特尔的加入将使USB 3.0 IC的价格逐渐下降，并加速市场向USB 3.0的过渡。
技嘉最近刚刚宣布，其USB 3.0主板出货量已达到100万部。而NEC的USB 3.0控制器IC的出货量更是高达300万部。
USB 2.0的最高数据传输率为480Mbps，而USB3.0
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英特尔 USB3.0
NEC的USB 3.0控制器芯片已经发布半年并得到广泛应用，们至今没有看到第二款同类竞争产品，不过我们听说Intel将在今年年底推出自己的USB 3.0控制器。其实这并不完全算是一个好消息，因为Intel准备的也是一颗独立控制芯片，而不是把USB 3.0直接集成在芯片组内部。AMD 8系列和Intel 6系列芯片组都不约而同地选择了原生支持SATA 6Gbps，却把效果更明显、更受期待的USB 3.0放在了一边。从NEC芯片的尺寸看，或许在芯片组内原生支持USB 3.0需要占用太多Die。
现在
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NEC USB3.0
力科公司宣布百佳泰测试实验室已选择力科的USB 3.0测试套件来完成USB3.0的兼容性测试。百佳泰将利用LeCroy的测试设备为USB3.0制造商提供全面的物理层和协议层、发射机和接收机的测试。除了USB3.0，力科将为百佳泰提供测试SATA和其它高速串行数据标准的完整解决方案。
“LeCroy的USB 3.0的测试套件是完全集成了发射机和接收机测试的解决方案，能满足USB3.0一致性测试要求，”James Ou, 百佳泰的个人应用程序测试中心主任认为，“L
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力科 USB3.0 发射机，接收机
超高速USB3.0标准已经出现一段时间了。但是，它还没有广泛应用。虽然有许多具有USB3.0功能的闪存硬盘、硬盘和其它外部存储设备，但是，还有许多因素在继续限制这个新接口的应用。主要问题是缺少英特尔(博客)和微软的联合的支持。这就意味着USB3.0设备厂商必须继续依靠 EMC的芯片，而OEM厂商还在等待微软Windows本地支持这个接口。因此，速度为每秒4GB的USB3.0解决方案很可能在2012年年初成为主流应用。
Windows7的推出时间不长，但是，微软已经在研制下一个版本的操作系统，也就
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英特尔 USB3.0 闪存硬盘
虽然USB 3.0接口已经体现出了明显的速度优势，且广为用户期待，但Intel、AMD的芯片组短期内都不打算为其提供原生支持。Intel芯片组产品线营销总监Steve Peterson在德国汉诺威参加CeBIT全球会议时更是直言，他认为只有到了微软的下一代客户端操作系统Windows 8普及的时代，USB 3.0才会真正成为主流。
Windows 7发布于去年十月底，在那时候其继任者就早已提上开发日程。按照目前的普遍预计，Windows 8最早有望在2011年底发布，但也有可能要等到2012年，
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Intel USB3.0
恩智浦半导体(NXP Semiconductors)日前宣布，为USB 3.0和eSATA之类的高速差分接口推出一种新的ESD保护设备IP4284CZ10。IP4284CZ10提供了业内最低的差分串扰及完美的线路到线路电容匹配和直通布线能力，优化了信号完整性。IP4284CZ10提供了8kV的接触放电ESD保护能力，符合IEC61000-4-2标准第四级。
USB 3.0和eSATA同时传送和接收信号，对ESD设备提出了严格的信号完整性要求，这些要求在以前的USB 2.0, HDMI和Displ
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NXP USB3.0 eSATA ESD IP4284CZ10
无处不在的通用串行总线(USB)接口即将迎接又一次换代，以便紧跟连接带宽需求不断增长的步伐。USB3.0或所谓“超高速USB”预计将在传输速度、电源管理和灵活性方面向前跨越一大步。USB 3.0的开发方向包括提供更高的传输率、提高最大总线功率和设备电流、提供全新的电源管理功能以及向下兼容USB2.0的新型电缆和连接器。而最显著的变化是新增了一条与现有USB 2.0总线并行的物理总线，见图1。
USB 3.0电流传输能力的提高强化了对全新电路保护方案的需求。一种协同电路
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泰科 USB3.0 过流保护 过压保护 ESD保护
本文就来验证一下USB3.0 SuperSpeed使用以前的共模扼流线圈时出现的问题，并介绍能够应用于USB3.0 SuperSpeed的新共模扼流线圈产品。
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对策 USB3.0 通信协议
USB3.0的Receiver测试的两种方法
由于USB3.0的速率高达5Gbps，在USB3.0规范中接收机测试成为必测项目。接收机测试包括了误码率测试和接收机抖动容限测试两部分。
对于Receiver Compliance测试，需要使用误码率测试仪BERT(Bit Error Ratio Tester，简称BERT)，比如力科的PeRT3。BERT由Pattern Generator和Error Detector组成。如下图1左图所示为传统的BER测试和抖动容限测试的示意图。BERT的
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力科 USB3.0 接收端
富士通微电子(上海)有限公司近日宣布富士通微电子的USB 3.0-SATA桥接芯片已通过美国USB Implementers Forum(USB-IF，USB接口的标准化团体)的产品认证，并获得认证证书。
富士通MB86C30桥接芯片已经通过USB-IF产品质量的合格测试。与USB 2.0器件相比，MB86C30将外部存储设备(如硬盘驱动)至电脑的数据传输率提高了一个数量级。另外，该芯片还内置USB通信控制电路、SATA通信控制电路、协议控制和命令控制电路以及加密/解密引擎。
富士通微电子
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富士通 USB3.0 桥接芯片 USB接口
下一代串行数据标准采用的高速率已经进入到微波领域。比如，即将到来的SuperSpeed USB(USB 3.0)通过双绞线对线缆传输速的率就达到了5Gb/s。通过连接器和线缆传输如此高的速率必须考虑通道的不连续性引起的失真。为了将失真程度保持在一个可控的水平，标准规定了线缆和连接器对的阻抗和回波损耗。最新的测量使用S参数S11表征而且必须归一化到线缆的90欧姆差分阻抗。
当测量USB 3.0通道的S参数时，可选的仪器是时域反射计或TDR。TDR系统通常往待测器件注入一个阶跃电压信号然后测量是时间
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USB3.0 连接器
随着连接带宽需求不断增长的步伐，USB2.0的480mbps传输速度已经不足以满足现在和未来的应用要求，USB3.0标准的推出意味着USB接口即将迎接又一次换代。USB3.0或所谓“超高速USB”支持5Gbps左右的传输速率，在传输速度、电源管理和灵活性方面向前跨越一大步。业界普遍预测2010年年中，USB3.0将在手机、便携上网终端等应用领域迎来巨大商机。
USB3.0提供更高的传输率、提高了最大总线功率和设备电流、提供全新的电源管理功能以及向下兼容USB2.0的新型电
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USB3.0 连接器
一月初，Intel发布了最新一代H55、H57主板芯片组，H55、H57是P55的整合平台版本，从这一代开始，图形显示核心实际上已经从主板芯片转 移到CPU内部。
Intel5系列主板芯片组仍然采用65nm工艺制程，到6系列芯片组发布才会采用45nm工艺。
Intel6系列主板芯片组将升级DMI总线到2.0版本，大概在第二季度X68主板芯片组就将问世，它仍然采用双芯片设计，搭载ICH11南桥。
一直到2011年的P65、H65以及Q65我们才有可能看到Intel导入USB3.0、SA
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Intel USB3.0 65nm
全球示波器市场的领导厂商—泰克公司日前宣布，其SuperSpeed USB解决方案为NEC电子符合USB 3.0标准的主机提供信号质量监测，该主机是世界首款获得USB设计者论坛USB 3.0认证的产品。
作为设计和生产集成电路的全球领导企业，NEC电子选择与泰克合作，验证其新的硅元件以满足新兴的SuperSpeed USB标准(USB3.0)要求。USB技术已经迅速被公认为连接电脑及外设的行业标准，与其它先进的高速接口如PCI Express 2.0和SATA Gen 3等相比，US
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泰克 SuperSpeed USB3.0
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