本文以FPGA为控制单元，完成了AD1836中D/A部分的I2S接口设计，它在数字音频系统的设计中有一定的参考和实用价值。该设计已经成功运用在某话路特性综合测试系统中，性能良好。
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FPGA 1836 I2S AD
进一步展示其FPGA灵活性和通用性，Altera公司宣布，XLoom通信公司采用Stratix® II GX FPGA信号完整性开发套件来提供独特的误码率(BER)测试环境。和传统的BER测试设备相比，Altera基于FPGA的开发板支持XLoom以更高的性价比来测试芯片级光电互联模块。这一独特的测试环境更贴近实际的客户状态，同时进一步节省了空间，降低了功耗。
传统的BER测试仪成本高达100,000美元，而Stratix II GX FPGA信号完整性开发套件在这方面的成本节省了90％
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Altera FPGA 开发套件 XLoom
1、引言
阿尔法磁谱仪(Alpha Magnetic Spectrometer，AMS)实验室是丁肇中博士领导的由美、俄、德、法、中等16个国家和地区共300多名科学家参加的大型国际合作项目。它是国际空间站上唯一大型物理实验，是人类第一次在太空中精密地测量高能量带电原子核粒子的实验。其目的是为寻找反物质所组成的宇宙和暗物质的来源以及测量宇宙线的来源。
但是对于AMS实验的空间电子系统，同样会受到高能粒子的袭击，导致存储器的内容发生变化，改写半导体存储器件的逻辑状态，导致存储单元在逻辑&ls
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FPGA 存储器 AMS 编码 译码
简介
射频工程师通常使用矢量网络分析仪（VNA）测量射频元器件的S参数，以便对其特性进行表征并进行后续设计。他们在测量过程中遇到的一个问题是，这些元器件往往是表贴封装的，不能直接与VNA连接。如图1所示，工程师通常会制作简单的PCB测试夹具来对被测件（DUT）进行表面贴装，建立被测件与VNA的连接。但是，这样的测试夹具本身会给S参数测量带来寄生效应，必须通过一个称为去嵌入的过程来去除这种效应。
图1 PCB测试夹具对被测件（DUT）进行表面贴装
本文描述了一个实用的去嵌入过程，它不需
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射频 PCB 夹具 去嵌入
Actel公司宣布其Libero® 集成开发环境 （IDE） 增添全新的功耗优化和增强的设计创建功能。全新的Libero IDE 8.4针对基于 Flash的IGLOO®、IGLOO PLUS和 ProASIC®3L现场可编程门阵列 （FPGA），提供由1.14V至 1.575V的FPGA内核工作电压范围，为设计人员提供额外的内核电压选择，以实现更低的功耗。新版本Libero IDE改进了SmartPower功耗分析工具，便于比较同一设计的多种设计实现和器件不同工作条件下的状况
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Actel IDE Libero FPGA 集成开发环境
1. 引言
在摩尔定律的推动下，半导体行业技术发展非常迅速，集成电路晶体管数量每两年翻倍，对器件或者系统之间的通信链路数据速率要求越来越高。而工艺节点的减小又促进了摩尔定律。减小体积可以在单位逻辑中容纳更多的功能，提高工作速率、逻辑密度和集成度，同时降低了。通常采用高级设计方法和工艺技术来提高数据速率，支持固网和无线通信、计算机、存储、军事应用以及广播电子系统发送接收大量数据，以满足不断增长的数据传输和带宽要求。
微处理器和FPGA等前沿产品采用了65-nm工艺技术。这些产品的后续型号将采
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半导体 FPGA 微处理器 I/O
工业控制中往往需要完成多通道故障检测及多通道命令控制（这种多任务设置非常普遍），单独的CPU芯片由于其外部控制接口数量有限而难以直接完成多路检控任务，故利用ARM芯片与FPGA相结合来扩展检控通道是一个非常好的选择。这里介绍用Atmel公司ARM7处理器（AT91FR40162）和ALTERA公司的低成本FPGA芯片（cyclone2）结合使用完成多通道检控任务的一种实现方法。
各部分功能简介
图1为此系统的结构连接框图。如图所示，ARM芯片与FPGA芯片之间通过数据总线、地址总线及读写控
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工业控制 ARM FPGA 处理器
1 引言
ARM(Advanced RISC Machines)既可以认为是一个公司。也可以认为是对一类微处理器的统称，还可以认为是一项技术。基于ARM技术的微处理器应用约占据了32位RISC微处理器75％以上的市场份额，ARM技术正在逐步渗入到人们生活的各个方面[1]。到目前为止，ARM微处理器及技术已经广泛应用到各个领域，包括工业控制领域、网络应用、消费类电子产品、成像和安全产品等。
FPGA(Field Programmable Gate Array)是一种高密度现场可编程逻辑器件，
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ARM 嵌入式 FPGA SRAM
0 引言
随着FPGA和大规模集成电路的发展，数据交换的实现有了新的方法。在该设计中，FPGA完成串口数据信号(TXD、RXD)的交换，专用的时隙交换芯片完成串口握手线(RTS、CTS、DTR、DSR、DCD、RI)的交换。内部有硬件冲突监测功能，能够自动检测到2个终端同时连接到同一个信道或2个信道连接到同一个终端，并自动将旧的连接状态拆除，建立新的链路。这样就使原来的连接终端进入空闲状态，保证终端和信道时间轴上的无缝隙切换。通过判断RI的状态，它还可以监视信道DCE的状态，判断出信道是否有请求
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FPGA 集成电路 数据交换 串口
消费者迫切需求的辅助驾驶系统技术需要具有先进精密功能且外形尺寸又非常小的高可靠性元件。由于这些系统尺寸很小，而且彼此非常靠近，因此还要求器件具有超低功耗和良好的耐久性。空间受限的系统在设计方面存在的热可靠性问题可通过采用较少的元件及超低的功耗来解决。Actel公司以Flash为基础的ProASIC3 FPGA具有固件错误免疫力、低功耗和小外形尺寸等优势，因而消除了FPGA（现场可编程门阵列）用于安全关键汽车应用领域的障碍。
汽车工程师过去通常依赖于MCU(微控制器)和定制ASIC（专用集成电
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FPGA ASIC MCU ProASIC3 半导体器件
药用管制瓶在灌装前必须进行多个指标检测。针对实际生产的需要，基于FPGA和DSP，提出并设计了小型化、低功耗的多通道高速实时图像采集、处理和显示系统。给出了影响系统性能的主要因素。
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平台 设计 实现 图像处理 实时 FPGA DSP 基于
摘要：介绍了一种利用USB2.0的高速传输特性，基于USB和DSP的数据采集系统。详细论述了系统的总体结构、部分硬...
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USB DSP FPGA
0引言
随着计算机、通信等技术的发展，各种电子装备如电台、通信控制器等在部队得到大量应用。为完成战场快速测试维修，各军种研制和集成了各种通用和专用测试系统，以及配套研发的系统级和板级TPS软件。由于被测对象内部检测点、PCB文件、SCH文件、内外部输入输出功能等测试资料不完整和不齐套，以及TPS研制时间的紧迫性，加上缺乏TPS软件开发经验，目前软件的可靠性及其测试存在需求、测试方法、评估等问题。软件是自动测试系统运行的核心，软件的可靠性直接关系到自动测试系统的作战使命与任务。影响软件的可靠性因素
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测试 TPS PCB FMECA
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