- 康耐视公司推出了DVT® 535C颜色视觉传感器。DVT® 535C不仅是同类产品中功能最为强大、使用最为简易的传感器，而且配备了一整套的视觉工具，因此为入门级的颜色视觉传感器设立了新的性价比标准。 “和大多数低价位的颜色视觉传感器不同的是，DVT 535C不只局限于执行单一的机器视觉任务（如颜色分类），而是能够在整套的颜色工具的配合下，应用于一系列广泛的领域，如颜色分类、颜色匹配和误差检测。”康耐视视觉传感器部门的高级副总裁Kris Nel
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- 使用飞思卡尔的低端8位微控制器（MCU）的嵌入式系统设计人员现在可以简单快速地调试他们的代码，做到“开箱即用”。飞思卡尔已经引入了强大的、简单的和经济高效的调试工具包，使设计人员在完成他们的嵌入式应用之前，能够灵活地开发、评估和测试8位代码。 专为飞思卡尔的S08 MCU设计的USBSYPDER08 发现工具包针对广受欢迎的MC9S08QG、MC9S08QD和MC9RS08KA系列，是飞思卡尔成员队伍日益壮大的、使用简便的嵌入式应用开发工具最新版本。该工具包具有基于USB电路内
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- 美国国家半导体公司宣布推出业界首款保证在不同温度下仍能保证准确测量的射频功率检波器，确保第三代 (3G) 移动电话可以灵活控制射频功率。美国国家半导体的 LMV221 射频功率检波器可以准确控制射频发射功率，确保发射功率可在广阔的温度范围内保持稳定，而且在广阔的动态范围内也准确无误。这款芯片适用于不同的频带，覆盖范围介于 50MHz 与 3.5GHz 之间，动态范围则达 40dB，而且在摄氏 -40&n
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- 当今，微电子技术已经进入超大规模集成电路(VLSI)时代。随着芯片电路的小型化及表面封装技术(SMT)和电路板组装技术的发展，使得传统测试技术面临着巨大的挑战。在这种情况下，为了提高电路和系统的可测试性，联合测试行动小组(JTAG)于1987年提出了一种新的电路板测试方法--边界扫描测试，并于1990年被IEEE接纳，形成了IEEE1149．1标准，也称为JTAG标准[1]。这种技术以全新的"虚拟探针"代替传统的"物理探针"来提高电路和系统的可测性。由于JTAG标准的通用性很好，现在许多IC公司都提供了支
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边界扫描 测量 测试 数字系统
- 随着微电子技术和计算机技术的发展，计算机被引入电子测量仪器，形成基于计算机的自动测试系统。计算机属弱电设备，因此，自动测试系统极易受干扰。其中，接地干扰轻则给系统测试数据带来误差，重则将出现“冲程序”现象，使整个测试系统不能正常工作。所以，基于计算机的测试系统设计时，需要采用良好的接地技术。
1 接地概述
以大地作为零电位的基准，是基于地球的电容量极大。但是大地不是良导体，它的导电率介于导体与绝缘体之间，称为半导体。当一个电子系统内两个不同电位点分别进行接地时，在接地回路中流过电流，形成共模干扰造成
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- 飞兆半导体公司(FairchildSemiconductor)宣布推出高频光隔离MOSFET栅极驱动器系列的全新产品，能够在工业应用中驱动高达30A/1200V的MOSFET。FOD3180(2A)和FOD3181(0.5A)具有200ns(最大)的上升/下降时间，能够迅速开启/关断MOSFET以减小开关损耗。FOD3180具有高达2A的峰值输出电流，毋须额外的功率放大线路便可直接驱动宽范围的MOSFET。在太阳能逆变器、高性能不间断电源(UPS)、DC/DC转换器，以
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半导体 飞兆 隔离器件
- 飞兆半导体公司(FairchildSemiconductor)宣布推出高频光隔离MOSFET栅极驱动器系列的全新产品，能够在工业应用中驱动高达30A/1200V的MOSFET。FOD3180(2A)和FOD3181(0.5A)具有200ns(最大)的上升/下降时间，能够迅速开启/关断MOSFET以减小开关损耗。FOD3180具有高达2A的峰值输出电流，毋须额外的功率放大线路便可直接驱动宽范围的MOSFET。在太阳能逆变器、高性能不间断电源(UPS)、DC/D
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- 据在班加罗尔的风险投资家和美国芯片领导厂商称，印度具有针对IT后端和半导体芯片设计服务这样的软件外包目的地的鲜明优势，与此同时，本地电子设备硬件市场的增长有望得到迅速地发展。 “印度的数字经济正开始发展，并且它将推动本地(硬件)市场，”据SandalwoodPartners的执行总监BobKondamoori表示，SandalwoodPartners是印度及亚太地区极具活力的一家风险投资(VC)公司
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- 新年伊始，美国理想工业公司（IDEAL）推出了一款新型电压/谐波监测仪61-830，这种功能强大的故障定位工具能够对电压骤降、骤升、脉冲和谐波进行精确的探测和记录。无论是内在或外在的电能质量问题，利用61-830都可以一览无余。其最大特点是设置简单，不需要计算机或特殊软件的帮助，即可及时报告电压事件发生和持续的时间以及严重程度，为电能质量分析开辟了新的途径。 随着精密电子设备的广泛应用，人们对供电质量的关心有增无减。不论是工业供电，商用供电，还是家庭供电，劣质供电将增加设备运行费用、质保费用、宕机
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- 引言
传统的逻辑分析仪体积庞大、价格昂贵、通道数目有限，并且在数据采集、传输、存储、显示等方面存在诸多限制，在很大程度上影响了其在实际中的应用。选用高性能的FPGA芯片进行数据处理，充分利用PC的强大处理功能，配合LabView图形化语言开发的虚拟逻辑分析仪，其数据处理和传输速率大大提高，适用性极大增强，其显示、操作界面和低廉的成本较之传统的逻辑分析仪具有极大的优势和发展前景。
工作原理
本设计选用Altera公司的Cyclone系列FPGA器件EP1C3进行数据采集和处理，外接S
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- 新型DSA70000系列包含多个型号的示波器，提供类似的功能集并跨越三个带宽等级：带宽达到12.5 GHz的DSA71254、带宽达到16 GHz的DSA71604 和带宽达到20 GHz DSA72004。最终用户可依据自己要采集的最大信号频率来选择各自所需的解决方案。新型DSA70000系列示波器与同级别性能的其它产品不同。在即将推出的这些产品上，用户都能发现独一无二的 “带宽拨盘”功能，基于 DSP 的这一功能让用户可以优化每个仪器的带宽，以便匹配（而不是超过）特定应用的测量需要。不是每次测量都是全
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- 一、 半导体发光二极管工作原理、特性及应用
（一）LED发光原理
发光二极管是由Ⅲ-Ⅳ族化合物，如GaAs（砷化镓）、GaP（磷化镓）、GaAsP（磷砷化镓）等半导体制成的，其核心是PN结。因此它具有一般P-N结的I-N特性，即正向导通，反向截止、击穿特性。此外，在一定条件下，它还具有发光特性。在正向电压下，电子由N区注入P区，空穴由P区注入N区。进入对方区域的少数载流子（少子）一部分与多数载流子（多子）复合而发光，如图1所示。
假设发光是在P区中发生的，那么注入的电子与价带空穴直接复合而发
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- TEK推出业界第一款具有 20 GHz 实时带宽和 50 GS/s 同步取样速率的超高性能示波器。新问世的DSA70000 系列数字串行分析器（DSA）产品线包括如下机型：20 GHz的DSA72004、16GHz的DSA71604和12.5GHz的DSA71254。这些新产品均具有无与伦比的性能和分析能力，并有力扩充了去年夏天与 DSA 示波器同步推出的实时 DPO 性能平台，这些
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- 安捷伦宣布在Agilent 81134A 3.35 GHz脉冲码型发生器上增加了USB 2.0接收机测试功能, 使研发工程师能够扩大测试范围和进行自动化测试。 尽管USB设备目前已得到广泛应用，但是设计时的测试范围仍不足以确保消除所有最终用户的互操作性问题。在接收机测试等方面的一个未发现的设计问题，可能给最终用户造成巨大影响。间歇性的系统崩溃会极大增加支持费用。在装运给客户之后发现问题的代价是在设计期间发现问题的一千多倍。 新的接收机测试性能使
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- 安捷伦推出带有完全抖动注入能力的J-BERT N4903A 7 Gb/s和12.5 Gb/s码型发生器。设计和测试工程师现在可以使用所有类型的抖动快速精确地激励串行高速端口，以确保更高质量的设备性能表征。Agilent J-BERT N4903A码型发生器可与示波器、内置误码检测器或其他分析仪连用。 计算机行业正在推出使用PCI Express、串行高级技术附件和全缓冲DIMM（双列直插内存模块）等技术的下一代多千兆位设备。工程
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半导体测试系统介绍
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