彩色滤光片实现OLED彩色化的瑕疵分析*

　　而尖峰较多的表面会比一般平整的ITO上制作的器件更容易集中注入空穴，所以表面形态和OLED器件的漏电流有着直接的联系。因为ITO表面的粗糙引尖峰会成为漏电流的途径。存在的异物等突起，会使这些部位电流密度增高，漏电流加大，功耗增加，严重时造成局部短路，产生黑点，结果是显示器的发光效率降低、寿命缩短，甚至因出现严重黑点而报废。

　　对于ITO的规格比较统一标准是10mm×10mm正方形面积内的AFM测得的平均粗糙度Ra≤1~3nm、Rp-v≤10~30nm。这样的要求高于普通STN的ITO基板， LCD用CF的ITO表面没有提过如此严格的要求，因为其前后电极距离有6000nm之多，几十nm的Spike(突起)与之相比可以忽略。OLED器件会由于ITO基板表面的粗糙引起的器件像素区域出现黑点，漏电流过大，寿命较短等一系列的问题。

　　结论

　　对于将CF应用于OLED全彩化显示的技术，目前还有很多课题需要解决。如何解决CF表面的粗糙度，以及阻隔ITO层下面的有机层上水气方面，目前业内还没有满意的解决方案。以上这些ITO薄膜的粗糙不平属于纳米级别的不平问题，灰尘和针孔等缺陷引起的凸凹不平将引起更严重的问题，属于微米级别的不平问题，所以必须严格控制各种灰尘和针眼等缺陷。因此，对于OLED的材料开发也提出了新的课题，同时也需要对OLED的器件结构的改进。

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