NI成功主办第六届 “中国PXI技术和应用论坛”

　　美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)宣布在中国北京成功主办第六届 “中国PXI技术和应用论坛” (PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC)。近600位相关领域的工程师和技术人员到场参加会议。除了主办商NI以外，八家国内外知名的PXI供应商如 Aeroflex、MAC Panel、VPC、Pickering，凌华科技以及北京中科泛华，上海聚星仪器，陕西海泰向到会观众展示了最新基于PXI的产品和解决方案。本届活动还特地邀请到了PXI系统联盟技术委员会主席暨NI研发总部首席工程师Mark Wetzel先生和清华大学汽车研究所副所长卢青春教授为此次会议作开幕主题演讲。

图1-观众听讲

　　去年PXI TAC盛会提出的以软件为核心的模块化系统架构，顺应了主流的市场发展趋势，已经得到业内广泛的认可;今年，作为测试测量行业的领导者，NI基于该架构进一步展望了2009自动化测试的应用发展趋势，包括多核技术下的并行测试; 基于FPGA的自定义仪器设计; 基于软件无线电的射频测试; 协议感知(Protocol-Aware)的半导体验证与测试等，同时进一步将PXI平台的应用从测试领域延伸至控制、设计等领域。现场整个会议的技术演讲与产品展示中都体现了这五大趋势的应用。