iNEMI解决电路板的质量问题

　　推广边界扫描技术

　　边界扫描技术的演变几乎可追溯到二十年前，其目的是为了解决拥挤复杂的PCB上逻辑节点的访问空间（access）不断减少的问题（图2）。由于该技术的设计时间长，占用大量宝贵的空间，加之人们认为采用边界扫描对电路板“性能”的影响即使难以确定，也是不利影响，所以设计者一直抵制使用该技术。

　　电路板技术的演变日益迫使测试工程师在电路板设计中采用边界扫描。因此，电路板测试TIG启动一个项目，以期确定元件制造商的接受程度，并制定策略来提高接受程度和鼓励元件级方案的标准化。由于思科产品和流程的本质决定，很久之前边界扫描就成为其一个重中之重的问题，所以该公司的Steve Butkovich被选为项目负责人。其他参与者包括原始设备制造商（OEM）和合同制造商等各家公司的代表。

　　Butkovich评论说：“当被问到他们为什么不更热情地支持这一技术时，元件供应商称没有市场，客户没有足够的需求。我们项目的目的之一就是在行业论坛中向供应商提出对该技术的需求，而非只是由几家个别公司提出。通过采用这种方式，我们赋予这种技术更大的意义。”

　　Butkovich表示，器件技术的进步大大减弱设计者早期争论的有效性。他说：“开始，一些实施边界扫描技术的元件供应商做得不太好。额外电路可能使器件增加四五千个门，但是当门减少时，边界扫描占用的空间就失去了意义。自动化工具使设计者的时间缩短为几天。曾经高达15%的额外成本已降到添加边界扫描根本不会增加器件成本的程度。”

　　Butkovich称，在行业论坛中将对边界扫描的需求摆在供应商的面前，被提到了一个新的高度，强调的是这种能力对于许多产品测试都是必不可少的。厂商不应将包含边界扫描元件看作是一项竞争优势，而是看作所有产品制造商都应支持的一项基本要求。

　　他继续说：“我们都看到，在达到足够的测试覆盖率方面，传统的ICT方法已变得空前困难和不实用。由于我们生产的产品类型（图3）的原因，许多电路中几乎没有包括传统的访问空间。检测没有提供任何有效的解决办法。我们需要有效的电气测试。”