微谐振传感器同频干扰的建模与消除
笔者以静电激励/电容拾振谐振式硅微加速度传感器为例,分析了同频干扰产生的原因并提出一种新的解决方法。
1、同频干扰的分析与建模
静电激励/电容拾振硅微谐振传感器的谐振梁敏感结构尺寸非常小,存在强烈的同频干扰信号。同频干扰主要有以下3个耦合途径(如图1所示):
① 极板间耦合电容。由于激振极板与拾振极板距离较近,激振极板的交流电压信号可以通过耦合电容Coh1。作用在拾振极板上形成耦合干扰。
② 引线间耦合电容。激振极板的引线与拾振极板的引线之间存在耦合电容(Coh2)。主要是由于极板的引线较长,一般可以达到几毫米,所以激振信号通过Coh2耦合到拾振极板的引线上,形成同频干扰。
③ 感应电动势。由于拾振电路构成一个闭合回路,所以激振的交变信号会在拾振回路中产生感生电动势Vn,此电势也是一个同频干扰源。
图1 硅微谐振式传感器同频干扰模型
图2 同频干扰耦合的电路等效模型
由上述分析可知,同频干扰主要是由耦合电容和感生电动势组成,由此提出两次差分的方法消除同频干扰,建立了图3所示的双端差分激励/双端差分检测的接口电路。
图3 双端差分激励/双端差分检测原理图
其电路等效模型如图4所示,具体分析如下。
(1) 双端差分激励
在这里只对一侧的差分激励进行分析。谐振梁的一侧有2个激振极板,这2个极板上的激振信号相位相差180。,在忽略Vn的前提条件下[Vn将在第二次差分时消除],取样电阻R上的输出干扰信号为
图4 双端差分激励/双端差分检测耦合干扰等效电路图
本结构采用了双端拾振的方式,对输出信号进行双端差分检测,从而在放大有用信号的同时消除同频干扰。如图5所示,在上下2个拾振极板构成的2个检测回路中的感生电动势Vn1和Vn2近似相等(结构对称性),使用差动运算可以将其消除。然而差动检测不仅可以消除同频干扰,对于测量过程中的各中噪声均可以有效的消除,进而显著提高信噪比。
图5 双端差分检测等效电路图
这种设计不仅仅能够有效地消除同频干扰,与常规的设计相比还有以下的优点:
① 与单端激励、单端检测的硅微谐振式传感器相比,这种结构能够有效消除静电作用力中直流分量和二倍频分量带来的干扰。在静电力作用下谐振梁的受力为
② 与单梁结构双端激励双端检测的硅微谐振式传感器相比,这种结构在谐振梁上支出齿子来,可以显著提高拾振电容的面积,从而为微弱电容的检测提供了方便。
3、结束语
硅微谐振式传感器的干扰主要是同频干扰,这种干扰的存在不仅影响测量的精度,严重的会导致无法闭环,从而使传感器无法工作,笔者在分析同频干扰的各种耦合途径的基础上,提出同频干扰的等效模型和双端差分激励/双端差分检测的方法,通过两次差分来消除同频干扰,为硅微谐振式传感器成功闭环和高Q值的获取打下基础。
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