基于DAS AD7606的可扩展多通道同步采样数据采集系统(DAS)的布局
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在用于测试器件间匹配的图13所示电路中，7.5 V直流信号施加于U1和U2 AD7606器件的V1通道，并使用外部基准电压源。两个AD7606器件的两个V1通道的码直方图如图14所示。板上的所有16个通道以200 kSPS吞吐速率工作。U1和U2的V1通道之间的码直方图平均值相差0.6 LSB。
图13. 用于测试两个AD7606器件间匹配的电路示意图，使用外部基准电压源
图14. 图13所示电路的直方图
以上直方图显示，采用ADR421外部系统基准电压源时，一个AD7606器件的直方图平均值间匹配和多个AD7606器件的直方图平均值间匹配均小于1 LSB。
结论
本布局能够确保通过一个AD7606实现通道间良好匹配性能，并且同一PC板上的多个AD7606之间也具有良好的器件间匹配性能。AD7606器件的对称布局，特别是去耦电容将有助于实现良好的通道间匹配和器件间匹配。在高通道数系统中，良好的通道间和器件间性能匹配意味着校准程序得以简化。
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