应用指南 | eDP测试方案：确保面板显示接口的可靠性

Embedded Displayport（eDP） 是VESA（视频电子标准协会）制定的用于Notebook或PAD等移动设备的内嵌显示接口，目前官方组织发布的最新版为1.5。

eDP 接口 共有1~4对lane用于数据传输，内嵌时钟。在RBR，HBR，HBR2三种不同模式下，单个lane速率分别为:

■ RBR 1.62Gbps；

■ HBR 2.7Gbps；

■ HBR2 5.4Gbps；

■ HBR3 8.1Gbps

下图为eDP接口的结构图

eDP接口 测试包括 source/sink端的物理层测试 。Source端根据设备速率，选择对应的高带宽示波器进行测试。Sink端的测试主要是根据 不同速率进行接收端的压力容限测试 。

依据eDP物理层电气特性规范，Source端物理层测试需要完成如下测试项目：

eDP Source端物理层电气特性测试项目

不同的速率，有不同的测试项目要求，每一个测试项目要求被测发送相应的测试Pattern。

eDP Source端测试使用到的高带宽示波器，目前市场有三个厂商，美国泰克、是德和力科。根据测试标准，满足RBR和HBR速率，需要至少8GHz带宽示波器。满足HBR2速率测试，需要选择至少12.5GHz带宽示波器，采样率80GS/s以上。如果需要考虑到HBR3的速率，示波器带宽需要考虑16GHz。

测试组网连接如下：

使用夹具测试组网连接

使用探头测试组网连接

测试需要三个部分：

• 满足DUT速率要求的高带宽高采样率实时示波器：

TEK DPO/MSO70000C/DX/SX系列示波器

• eDP Source端口标准测试夹具及高速差分探头：

• eDP一致性测试软件：

TEK eDP物理层测试软件完全依照测试规范，可以完成前文所述的，各个物理层测试项目。

测试方案：

方案一

测试时通过与eDP Source DUT接口匹配的测试夹具，将信号引入到示波器内，示波器上运行的专用eDP物理层软件会分别对每对lane的电学指标按照协议中制定的指标进行分析，最终得出测试结果是否合乎一致性要求。

TEK eDP物理层测试方案支持使用eDP夹具和差分SMA探头测试，也可以使用差分探头直接在eDP panel端进行探测。两种方法均可实现最多4对lane 的同时测量。

方案二

使用夹具和SMA同轴线缆，将DUT发出的信号直接引入示波器，这样支持最多2对lane的同时测量。

如果EDP收端支持CTLE或CTLE+DFE均衡，眼图测试，需要示波器能够仿真到CTLE或CTLE+DFE均衡之后的眼图。TEK eDP物理层测试软件本身支持符合规范要求的CTLE仿真，通过搭配TEK SDLA串行链路分析软件，可以实现DFE的仿真。

SDLA串行链路分析软件

通过本文所介绍的eDP测试方案，我们详细探讨了如何使用合适的仪器设备和测试方法来验证eDP接口的物理层性能。使用Tektronix的高带宽示波器和专用测试软件，能够确保测试结果的准确性和一致性，从而满足不同速率下的eDP接口的严格要求。无论是在设计阶段还是在生产过程中，采用规范的测试方法对产品进行验证，都是保证产品质量和性能的关键步骤。这不仅有助于提高产品的市场竞争力，还能够有效降低潜在的质量风险。