一种安全可控的SoC可测性设计

摘要：提出了一种安全可控的可测性设计DFT（Design For Test）。DFT既能够完成对SoC的测试，又能保障SoC自身敏感信息和关键技术的安全。

本文引用地址：https://www.eepw.com.cn/article/201706/349244.htm

关键词：可测性设计 集成电路 微系统芯片

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