基于CPLD的频率响应特性测试卡设计 作者： 时间：2017-06-05 来源：网络 加入技术交流群 扫码加入和技术大咖面对面交流海量资料库查询 收藏 <a href='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/ck.php?n=a635e61e&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a href='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/ck.php?n=a576c0a2&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 提出了一种基于CPLD的频率响应特性测试卡设计方案,分析了DDS原理的CPLD实现方法,给出了数据处理算法流程,并进行了设计验证实验,结果表明在逐点单频测试状态下,相位和幅值测量与标准仪器相比相位差小于0.5°,幅值差小于0.1dB。基于CPLD的频率响应特性测试卡设计.pdf本文引用地址：https://www.eepw.com.cn/article/201706/348950.htm
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