泰克跨越RFID测试挑战“三重门”

　　曾志总结了RFID测试面临的主要挑战：

　　1.读写器测试

　　- 需要能够准确、快速地捕获RFID的间歇性突发信号;

　　- 需要兼容多种调制和解码方式及标准;

　　- 需要时域频域和调制域的联合分析，时间相关测量 (如标签读取的时序);

　　- 需要强大的频域触发功能，捕获频域上的特定信号(如干扰);

　　- 跳频信号捕获(触发)和解调分析 。

　　2.标签测试

　　- 需要对微弱信号的测量和分析能力;

　　- 需要兼容多种调制和解码方式，自动解调和解码

　　3.系统测试

　　- 密集环境下的交互和抗干扰测试;

　　- 一致性(互通性)测试;

　　- 系统读写周期分析;

　　- 解码和信令测试;

　　- 需要长存储，存储多个完整的读写周期，便于对读写状态分析。

　　“能实时、准确捕获RFID间歇性信号，支持多标准、多域分析功能等，这是相应信号分析设备应对上述三个方面测试挑战所要具备的特性。”曾志指出，“泰克基于DPX专利技术的实时信号分析仪(RTSA)系列以及最新推出的集成频谱分析仪的混合域示波器MDO4000系列为RFID研发、现场和认证测试提供了强大的解决方案平台。”

　　图3： 实时频谱分析仪和传统频谱分析仪的区别。

　　跨越研发、现场、认证测试“三重门”

　　RFID的测试分为研发测试(读写器实验室研发、系统开发和验证)、现场测试(系统调试、电磁环境评估、干扰查找和定位、数据采集)和认证测试(RFID标准一致性测试、系统互通性测试 )三个阶段。

　　泰克公司提供的RFID测试解决方案——RTSA和混合域分析仪及示波器MDO在研发测试阶段所能发挥的作用分为以下三个方面：

　　1.读写器设备的Troubleshooting：如进行读写器信号实时频谱分析(频率、功率、调制带宽等)，调制质量分析，瞬态噪声分析，跳频捕获和调制质量分析，时序测量，命令测试等;

　　2.标签测试：灵敏的触发设置，捕获低调制深度标签信号，时序测量，频谱测试，负载调制能量和质量;

　　3.分析和评估读写器与标签互通特性：实时频谱分析(同频频谱分析)，时序测量，碰撞分析，标签调制回波质量分析。

　　泰克RTSA可以在一台仪表中同时获得宽带矢量信号分析仪、频谱分析仪功能，并具备独有的触发-捕获-分析能力，可以轻松应对所有RFID应用中瞬变信号的捕获。频率达到8GHz，适合RFID所有频段要求;高达85MHz分析带宽，可满足所有RFID标准测试。其专利的DPX实时频谱技术，实现292,000频谱/秒更新速度。而超长记录时间，能够记录完整的RFID交互过程。

　　图4：泰克RTSA集成的DPX实时频谱显示技术非常适合RFID的读写器频谱分析。

　　RTSA具有灵活的频率模板触发器(FMT)，为可靠地检测和分析动态RF信号提供了一个强大的工具。它还可以用来进行传统频谱分析仪不可能完成的测量，如在存在强大的RF信号时捕获小电平瞬时事件，在拥挤的频谱范围内检测特定频率上的间歇性信号。分析仪在检测到触发事件时，能够把触发前和触发后的数据保存到内存中。一旦信号已经采集并存储在内存中，可以使用RTSA 中提供的各种时间相关视图分析信号，这种时间相关的多域分析功能提供了巨大的灵活性，可以使用各种分析工具，放大和全面检定采集的RF信号的不同部分。