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自动测试 设备 加流测压 加压测流
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末制导 雷达 自动测试
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末制导 雷达 自动测试 系统设计
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数/模转换 自动测试 数据采集 模拟仪器
- 1 引言
自动测试设备在军事及工业领域的应用越来越广泛，然而在电路单元尤其是电路板测试中，由于被测单元种类多，被测通道数量大，传统的开关矩阵体积大、切换速度慢、电气性能差。已不能满足现代测试仪器高速、便携的要求。本文介绍了一种采用USB接口，利用I2C总线传输数据，由CPLD控制多路复用器件的大型开关矩阵结构，具有较高的切换速度及较好的电气性能，并满足了小型化的要求。
2 系统结构及功能
开关矩阵主要实现自动测试设备与被测电路单元之间的信息交换，功能如下：
(1)将程控电源系统
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I2C 开关矩阵 CPLD USB 自动测试
自动测试介绍
目录
1 正文
正文
现代自动测试起源于军事上的需要，于50年代中期开展了大规模的研制，到60年代中后期已应用于工业中并得到进一步发展。第一代自动测试系统几乎都是为某些测试目的而专门设计制造的。为了适应武器系统和工业装备的迅速更新换代，人们试图制成“万能”的自动测试系统，以至设备日益庞大复杂。自动测试的目的除加快测试速度之外，更重要的是节省高级熟练技术人员的复杂劳动，使之从事 [
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